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碳化硅含量檢測機構標準

原創發布者:北檢院    發布時間:2024-12-05     點擊數:

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GB/T 34520.9-2021

連續碳化硅纖維測試方法 第9部分:碳含量

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2021-05-21
  • 【CCS分類】V13航空與航天用非金屬材料
  • 【ICS分類】49.020航空器和航天器綜合

GB/T 34520.9-2021

連續碳化硅纖維測試方法 第8部分:氧含量

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2021-08-20
  • 【CCS分類】V13航空與航天用非金屬材料
  • 【ICS分類】49.020航空器和航天器綜合

GB/T 34520.9-2021

石墨中碳化硅含量的測定方法

  • 【發布單位或類別】 CN-JC行業標準-建材
  • 【發布日期】2023-12-20
  • 【CCS分類】Q51石墨材料
  • 【ICS分類】73.080非金屬礦

GB/T 34520.9-2021

碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2014-12-31
  • 【CCS分類】H26金屬無損檢驗方法
  • 【ICS分類】77.040.99金屬材料的其他試驗方法

GB/T 34520.9-2021

出口碳化硅分析方法 碳化硅含量的測定

  • 【發布單位或類別】 CN-SN行業標準-商品檢驗
  • 【發布日期】1993-11-05
  • 【CCS分類】J43磨料與磨具
  • 【ICS分類】81.080耐火材料

GB/T 34520.9-2021

碳化硅單晶中硼、鋁、氮雜質含量的測定 二次離子質譜法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2021-12-31
  • 【CCS分類】H17半金屬及半導體材料分析方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

GB/T 34520.9-2021

金剛砂 碳化硅含量的測定 氫氟酸重量法

  • 【發布單位或類別】 CN-YB行業標準-黑色冶金
  • 【發布日期】2017-04-12
  • 【CCS分類】D52冶金輔助原料礦
  • 【ICS分類】73.080非金屬礦

GB/T 34520.9-2021

碳化硅單晶中痕量雜質元素含量的測定 輝光放電質譜法

  • 【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
  • 【發布日期】2023-04-21
  • 【CCS分類】H17半金屬及半導體材料分析方法
  • 【ICS分類】77.040.30金屬材料化學分析

GB/T 34520.9-2021

碳化硅陶瓷制品 工業計算機層析成像(CT)檢測

  • 【發布單位或類別】 CN-JC行業標準-建材
  • 【發布日期】2022-09-30
  • 【CCS分類】Q32特種陶瓷
  • 【ICS分類】81.060.20陶瓷制品

GB/T 34520.9-2021

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第2部分:缺陷的光學檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90電子技術專用材料
  • 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件

GB/T 34520.9-2021

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第1部分:缺陷分類

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90電子技術專用材料
  • 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件

GB/T 34520.9-2021

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第3部分:缺陷的光致發光檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90電子技術專用材料
  • 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件

GB/T 34520.9-2021

碳化硅晶片位錯密度檢測方法 KOH腐蝕結合圖像識別法

  • 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發布日期】2021-11-01
  • 【CCS分類】H20/29金屬理化性能試驗方法
  • 【ICS分類】01.040詞匯

GB/T 34520.9-2021

碳化硅晶片表面金屬元素含量的測定電感耦合等離子體質譜法

  • 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發布日期】2023-06-19
  • 【CCS分類】金屬理化性能試驗方法
  • 【ICS分類】半導體材料

GB/T 34520.9-2021

碳化硅單晶拋光片表面質量和微管密度檢測方法-激光散射檢測法

  • 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發布日期】2019-12-27
  • 【CCS分類】H20/29工業技術玻璃
  • 【ICS分類】29.045半導體器分立件綜合

GB/T 34520.9-2021

半絕緣碳化硅材料中痕量雜質濃度及分布的二次離子質譜檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發布日期】2019-11-25
  • 【CCS分類】Q34
  • 【ICS分類】31.080.01其他半導體分立器件

GB/T 34520.9-2021

半導體器件.功率器件用碳化硅同質外延片中缺陷的無損識別標準.第3部分:用光致發光法檢測缺陷的試驗方法

  • 【發布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
  • 【發布日期】2020-07-13
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】31.080.99

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

碳化硅含量檢測機構標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(碳化硅含量檢測機構標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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