獲取試驗方案?獲取試驗報價?獲取試驗周期?
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。
硅片流動圖形缺陷的檢測 腐蝕法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-11-27
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【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
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【ICS分類】77.040金屬材料試驗
硅晶片上淺腐蝕坑檢測的測試方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2011-01-10
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2014-12-31
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【CCS分類】H26金屬無損檢驗方法
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【ICS分類】77.040.99金屬材料的其他試驗方法
法庭科學(xué) 硅藻rbcL基因特異片段檢測 毛細管電泳熒光檢測法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GA行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2021-10-14
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【CCS分類】A92犯罪鑒定技術(shù)
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【ICS分類】13.310犯罪行為防范
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第2部分:缺陷的光學(xué)檢測方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-12-28
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【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
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【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第3部分:缺陷的光致發(fā)光檢測方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-12-28
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【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
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【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
硅片字母數(shù)字標(biāo)志規(guī)范
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2017-10-14
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質(zhì)譜檢測方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2009-10-30
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片切口尺寸測試方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2011-01-10
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片直徑測量方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2009-10-30
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【CCS分類】H82元素半導(dǎo)體材料
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片彎曲度測試方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2009-10-30
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片包裝
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【發(fā)布單位或類別】 CN-YS行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬
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【發(fā)布日期】2015-04-30
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片訂貨單格式輸入規(guī)范
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2015-12-10
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第1部分:缺陷分類
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-12-28
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【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
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【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
硅片表面平整度測試方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2009-10-30
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅拋光片表面質(zhì)量目測檢驗方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2009-10-30
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
太陽能電池用多晶硅片
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2019-06-04
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【CCS分類】H82元素半導(dǎo)體材料
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片厚度和總厚度變化測試方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2009-10-30
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【CCS分類】H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片翹曲度非接觸式測試方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2009-10-30
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【CCS分類】H82元素半導(dǎo)體材料
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【ICS分類】29.045半導(dǎo)體材料
硅片切割廢液處理處置方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-HG行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工
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【發(fā)布日期】2021-08-21
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【CCS分類】Z05污染控制技術(shù)規(guī)范
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【ICS分類】13.030.20液態(tài)廢物、淤泥

實驗儀器
測試流程

注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(硅片標(biāo)準(zhǔn)檢測)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。