獲取試驗方案?獲取試驗報價?獲取試驗周期?
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。
串行NAND型快閃存儲器接口規(guī)范
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2018-03-15
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【CCS分類】L56半導(dǎo)體集成電路
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【ICS分類】31.200集成電路、微電子學(xué)
串行NOR型快閃存儲器接口規(guī)范
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2018-03-15
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【CCS分類】L56半導(dǎo)體集成電路
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【ICS分類】31.200集成電路、微電子學(xué)
半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲器(FLASH)
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-09-07
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【CCS分類】L56半導(dǎo)體集成電路
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【ICS分類】31.200集成電路、微電子學(xué)
信息技術(shù) 移動存儲 閃存盤通用規(guī)范
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2011-01-14
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【CCS分類】L63計算機(jī)外圍設(shè)備
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【ICS分類】35.240.40信息技術(shù)在銀行中的應(yīng)用
半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲器測試方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2018-06-07
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【CCS分類】L56半導(dǎo)體集成電路
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【ICS分類】31.200集成電路、微電子學(xué)
通用NAND型快閃存儲器接口
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【發(fā)布單位或類別】 CN-SJ行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子
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【發(fā)布日期】2018-02-09
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【CCS分類】L56半導(dǎo)體集成電路
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【ICS分類】31.200集成電路、微電子學(xué)
快閃存儲卡
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【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2022-10-20
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【CCS分類】L電子元器件與信息技術(shù)
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【ICS分類】35.240.10計算機(jī)輔助設(shè)計(CAD)
NAND 型閃存存儲器壽命試驗方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計劃
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【發(fā)布日期】2024-06-28
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【CCS分類】電子元器件與信息技術(shù)
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【ICS分類】35.020信息技術(shù)(IT)綜合
通用閃存(UFS)卡擴(kuò)展
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2018-01-01
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【CCS分類】環(huán)境保護(hù)綜合
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【ICS分類】磁存儲設(shè)備綜合
通用閃存接口(CFI)
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2003-09-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】環(huán)境和環(huán)境保護(hù)綜合
移動式閃存盤設(shè)計規(guī)范
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【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-02-21
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【CCS分類】L
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【ICS分類】35.220.20信息技術(shù)應(yīng)用綜合
通用閃存(UFS)主機(jī)性能提升器(HPB)擴(kuò)展
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2020-01-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】
閃存產(chǎn)品制造業(yè)綠色工廠評價要求
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【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2020-06-20
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【CCS分類】Z00/09
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【ICS分類】13.020.01
通用閃存存儲主機(jī)控制器接口(UFSHCI)
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2018-01-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】
通用閃存接口(CFI)識別碼
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2004-05-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】
移動存儲 TF閃存卡數(shù)據(jù)比對測試標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-12-08
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【CCS分類】
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【ICS分類】35.240.01
通用閃存(UFS)
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2020-01-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】
用于串行閃存設(shè)備的重放保護(hù)單調(diào)計數(shù)器(RPMC)
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2021-04-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】
通用閃存(UFS)
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2012-06-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】
通用閃存(UFS)測試
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【發(fā)布單位或類別】 US-JEDEC(美國)固態(tài)技術(shù)協(xié)會,隸屬EIA
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【發(fā)布日期】2013-03-01
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【CCS分類】
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【ICS分類】

實驗儀器
測試流程

注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(檢測閃存標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。