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硅 檢測 標準

原創發布者:北檢院    發布時間:2024-12-08     點擊數:

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GB/T 26066-2010

硅晶片上淺腐蝕坑檢測的測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2011-01-10
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 26066-2010

法語CTP 檢驗檢測實驗室技術要求驗收規范

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2018-12-28
  • 【CCS分類】P33居住與公共建筑工程
  • 【ICS分類】集成電路、微電子學

GB/T 26066-2010

硅基MEMS制造技術 微鍵合區剪切和拉壓強度檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2012-05-11
  • 【CCS分類】L55微電路綜合
  • 【ICS分類】31.200半導體材料

GB/T 26066-2010

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2020-06-02
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】半導體材料

GB/T 26066-2010

太陽能級多晶硅塊紅外探傷檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-DB65新疆維吾爾自治區地方標準
  • 【發布日期】2013-10-20
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 26066-2010

重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質譜檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045有關土質的其他標準

GB/T 26066-2010

硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質譜檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045土壤的化學特性

GB/T 26066-2010

土壤檢測 第15部分:土壤有效硅的測定

  • 【發布單位或類別】 CN-NY行業標準-農業
  • 【發布日期】2006-07-10
  • 【CCS分類】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分類】13.080.99非金屬礦

GB/T 26066-2010

土壤檢測方法 有效態元素的測定 第9部分:有效硅含量的測定

  • 【發布單位或類別】 CN-DB65新疆維吾爾自治區地方標準
  • 【發布日期】2024-02-23
  • 【CCS分類】B11土壤、水土保持
  • 【ICS分類】13.080.10金屬材料試驗

GB/T 26066-2010

電站現場晶體硅太陽能電池組件隱性缺陷檢測技術規范

  • 【發布單位或類別】 CN-DB63青海省地方標準
  • 【發布日期】2020-04-08
  • 【CCS分類】F23電站、電力系統運行檢修
  • 【ICS分類】73.080食品試驗和分析的一般方法

GB/T 26066-2010

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2015-10-09
  • 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】半導體材料

GB/T 26066-2010

硅片流動圖形缺陷的檢測 腐蝕法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-11-27
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040粘合料、密封材料

GB/T 26066-2010

進出口食品中氟硅唑殘留量檢測方法 氣相色譜-質譜法

  • 【發布單位或類別】 CN-SN行業標準-商品檢驗
  • 【發布日期】2008-11-18
  • 【CCS分類】X04基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】67.050太陽能工程

GB/T 26066-2010

硅拋光片表面質量目測檢驗方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045犯罪行為防范

GB/T 26066-2010

硅酮結構密封膠中烷烴增塑劑檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2015-07-03
  • 【CCS分類】Q24密封材料
  • 【ICS分類】91.100.50其他半導體分立器件

GB/T 26066-2010

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2018-12-28
  • 【CCS分類】P33居住與公共建筑工程
  • 【ICS分類】金屬材料的其他試驗方法

GB/T 26066-2010

晶體硅光伏組件 光熱誘導衰減(LETID)試驗 檢測

  • 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
  • 【發布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】犯罪鑒定技術
  • 【ICS分類】27.160

GB/T 26066-2010

法庭科學 硅藻rbcL基因特異片段檢測 毛細管電泳熒光檢測法

  • 【發布單位或類別】 CN-GA行業標準-公共安全標準
  • 【發布日期】2021-10-14
  • 【CCS分類】A92電子技術專用材料
  • 【ICS分類】13.310

GB/T 26066-2010

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第2部分:缺陷的光學檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-12-28
  • 【CCS分類】L90金屬無損檢驗方法
  • 【ICS分類】31.080.99

GB/T 26066-2010

碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2014-12-31
  • 【CCS分類】H26
  • 【ICS分類】77.040.99

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

硅 檢測 標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(硅 檢測 標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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