獲取試驗方案?獲取試驗報價?獲取試驗周期?
注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
硅晶片上淺腐蝕坑檢測的測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2011-01-10
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
SiC晶片的殘余應力檢測方法
-
【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
-
【發布日期】2020-12-17
-
【CCS分類】H80/84半金屬與半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
SiC晶片的殘余應力檢測方法
-
【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
-
【發布日期】2019-12-27
-
【CCS分類】H60/69有色金屬及其合金產品
-
【ICS分類】29.045半導體材料
碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2014-12-31
-
【CCS分類】H26金屬無損檢驗方法
-
【ICS分類】77.040.99金屬材料的其他試驗方法
晶片通用網格規范
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2019-03-25
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
碳化硅晶片位錯密度檢測方法 KOH腐蝕結合圖像識別法
-
【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
-
【發布日期】2021-11-01
-
【CCS分類】H20/29金屬理化性能試驗方法
-
【ICS分類】01.040詞匯
鍺單晶和鍺單晶片
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2019-06-04
-
【CCS分類】H82元素半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
確定晶片坐標系規范
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2019-03-25
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
晶片承載器傳輸并行接口要求
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2024-09-29
-
【CCS分類】L97加工專用設備
-
【ICS分類】31.260光電子學、激光設備
太陽能電池用硅單晶片
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2018-09-17
-
【CCS分類】H82元素半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
人造石英光學低通濾波器晶片
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2016-10-13
-
【CCS分類】L21石英晶體、壓電元件
-
【ICS分類】31.160濾波器
碳化硅單晶片直徑測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2014-07-24
-
【CCS分類】H83化合物半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
碳化硅單晶片平整度測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2015-12-10
-
【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
-
【ICS分類】77.040金屬材料試驗
晶片正面系列字母數字標志規范
-
【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
-
【發布日期】2014-10-14
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
硅及其它電子材料晶片參考面長度測量方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2009-10-30
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2014-07-24
-
【CCS分類】H83化合物半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
碳化硅單晶片微管密度的測定 化學腐蝕法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2014-07-24
-
【CCS分類】H83化合物半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
晶片承載器
-
【發布單位或類別】 CN-SJ行業標準-電子
-
【發布日期】1988-04-08
-
【CCS分類】L34其他電子元器件
-
【ICS分類】金屬材料試驗
低位錯密度鍺單晶片腐蝕坑密度(EPD)的測量方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2017-10-14
-
【CCS分類】H25金屬化學性能試驗方法
-
【ICS分類】77.040金屬材料試驗
半導體晶片表面金屬沾污的測定 全反射X射線熒光光譜法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2024-07-24
-
【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
-
【ICS分類】77.040

實驗儀器
測試流程

注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(晶片檢測檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。