法語CTP 檢驗檢測實驗室技術要求驗收規范

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2018-12-28
• 【CCS分類】P33居住與公共建筑工程
• 【ICS分類】粉末冶金

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2018-12-28
• 【CCS分類】P33居住與公共建筑工程
• 【ICS分類】金屬材料的其他試驗方法

二硫化碳氣體檢測儀校準規范

• 【發布單位或類別】 CN-JJF國家計量技術規范
• 【發布日期】2022-08-22
• 【CCS分類】金相檢驗方法
• 【ICS分類】其他半導體分立器件

礦用二氧化碳氣體檢測報警器校準規范

• 【發布單位或類別】 CN-JJF國家計量技術規范
• 【發布日期】2024-06-14
• 【CCS分類】金屬無損檢驗方法
• 【ICS分類】其他半導體分立器件

碳化鎢粉末微觀組織及缺陷檢測方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2021-05-21
• 【CCS分類】H24電子技術專用材料
• 【ICS分類】77.160陶瓷制品

碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2014-12-31
• 【CCS分類】H26電子技術專用材料
• 【ICS分類】77.040.99植物栽培

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第2部分：缺陷的光學檢測方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2023-12-28
• 【CCS分類】L90特種陶瓷
• 【ICS分類】31.080.99其他半導體分立器件

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第3部分：缺陷的光致發光檢測方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2023-12-28
• 【CCS分類】L90農林技術
• 【ICS分類】31.080.99半導體材料

碳化硅陶瓷制品 工業計算機層析成像(CT)檢測

• 【發布單位或類別】 CN-JC行業標準-建材
• 【發布日期】2022-09-30
• 【CCS分類】Q32電子技術專用材料
• 【ICS分類】81.060.20無損檢測

秸稈碳化碳封存技術規范

• 【發布單位或類別】 CN-DB23黑龍江省地方標準
• 【發布日期】2023-07-21
• 【CCS分類】B05化合物半導體材料
• 【ICS分類】65.020.20詞匯

半導體器件 功率器件用碳化硅同質外延片缺陷的無損檢測識別判據 第1部分：缺陷分類

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2023-12-28
• 【CCS分類】L90基礎標準與通用方法
• 【ICS分類】31.080.99航道和港口建筑

碳化硅單晶拋光片規范

• 【發布單位或類別】 CN-SJ行業標準-電子
• 【發布日期】2015-04-30
• 【CCS分類】H83半導體分立器件綜合
• 【ICS分類】29.045

無損檢測 超聲檢測 相控陣超聲檢測標準試塊規范

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2021-12-31
• 【CCS分類】J04供應與使用關系
• 【ICS分類】19.100

碳化深度測量儀和測量尺校準規范

• 【發布單位或類別】 CN-JJF國家計量技術規范
• 【發布日期】2018-12-25
• 【CCS分類】標準化、質量管理
• 【ICS分類】

Sic（碳化硅）材料半導體分立器件通用規范

• 【發布單位或類別】 CN-DB61陜西省地方標準
• 【發布日期】2019-06-25
• 【CCS分類】L40水路運輸綜合
• 【ICS分類】01.040

檢驗檢測機構遠程檢測服務規范

• 【發布單位或類別】 CN-DB34安徽省地方標準
• 【發布日期】2022-09-07
• 【CCS分類】A12
• 【ICS分類】

檢驗檢測機構分包檢測服務規范

• 【發布單位或類別】 CN-DB34安徽省地方標準
• 【發布日期】2022-09-07
• 【CCS分類】A00
• 【ICS分類】

SiC-HPSI 型高純半絕緣碳化硅單晶片規范

• 【發布單位或類別】 CN-SJ行業標準-電子
• 【發布日期】2018-01-18
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】

水運工程交工檢測與竣工檢測規范

• 【發布單位或類別】 CN-DB45廣西壯族自治區地方標準
• 【發布日期】2021-12-20
• 【CCS分類】R20
• 【ICS分類】93.140

水樣檢測用尿素檢測儀校準規范

• 【發布單位或類別】 CN-JJF國家計量技術規范
• 【發布日期】2020-01-17
• 【CCS分類】
• 【ICS分類】