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校驗(yàn)檢測(cè)執(zhí)行檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。
GB/T 34363-2017
無(wú)損檢測(cè) 鋁合金超聲標(biāo)準(zhǔn)試塊制作和校驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2017-09-29
- 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
- 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)
GB/T 23909.2-2009
無(wú)損檢測(cè) 射線(xiàn)透視檢測(cè) 第2部分：成像裝置長(zhǎng)期穩(wěn)定性的校驗(yàn)
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2009-05-26
- 【CCS分類(lèi)】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
- 【ICS分類(lèi)】19.100無(wú)損檢測(cè)
SL 144.7-2008
水環(huán)境檢測(cè)儀器及設(shè)備校驗(yàn)方法 電熱鼓風(fēng)干燥箱校驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-SL行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-水利
- 【發(fā)布日期】2008-06-17
- 【CCS分類(lèi)】N93水文與水利儀器
- 【ICS分類(lèi)】07.060地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)
JB/T 11602.2-2013
無(wú)損檢測(cè)儀器 X射線(xiàn)管電壓的測(cè)量和評(píng)定 第2部分： 用厚濾光板法作持久校驗(yàn)
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械
- 【發(fā)布日期】2013-12-31
- 【CCS分類(lèi)】N78Ｘ射線(xiàn)、磁粉、熒光及其他探傷儀器
- 【ICS分類(lèi)】17.180光學(xué)和光學(xué)測(cè)量
T/CEC 126-2016
六氟化硫氣體分解產(chǎn)物檢測(cè)儀校驗(yàn)方法
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2016-10-21
- 【CCS分類(lèi)】N93水文與水利儀器
- 【ICS分類(lèi)】27.100電站綜合
T/CEC 568-2021
SF6/N2混合氣體混合比檢測(cè)儀校驗(yàn)及現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)方法
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-12-06
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】29.240.99其他有關(guān)輸電網(wǎng)和配電網(wǎng)的設(shè)備
SMPTE RP 165-1994
用于電視位串行數(shù)字接口的錯(cuò)誤檢測(cè)校驗(yàn)字和狀態(tài)標(biāo)志
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-SMPTE美國(guó)電影與電視工程師協(xié)會(huì)
- 【發(fā)布日期】1994-01-01
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】數(shù)據(jù)鏈路層
MIL DESC 5962-96599
微電路 數(shù)字 抗輻射CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1995-12-13
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】數(shù)據(jù)鏈路層
KS X ISO/IEC 1155-2007
信息處理－利用縱向奇偶校驗(yàn)檢測(cè)信息報(bào)文中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2007-06-25
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】35.100.20數(shù)據(jù)鏈路層
MIL DSCC 5962-92201A
微電路 數(shù)字 高級(jí)CMOS 九位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅（取代DESC 5962-92201）
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2003-04-17
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
MIL DSCC 5962-96582B
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅（取代DESC 5962-96582）
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-03-20
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
ISO 1155:1978
信息處理——使用縱向奇偶校驗(yàn)檢測(cè)信息消息中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
- 【發(fā)布日期】1978-11-01
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】35.100.20
ISO 1155:1978
信息處理.使用縱向奇偶校驗(yàn)檢測(cè)信息電文中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-IEC國(guó)際電工委員會(huì)
- 【發(fā)布日期】1978-11-01
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】35.100.20
MIL DSCC 5962-96708C
微電路 數(shù)字 抗輻射先進(jìn)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器檢測(cè)器 單片硅（取代DESC 5962-96708）
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2000-06-14
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
ITU-R BT.1304
符合ITU-R BT.656和ITU-R BT.799建議的接口中錯(cuò)誤檢測(cè)和狀態(tài)信息的校驗(yàn)和
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 IX-ITU國(guó)際電信聯(lián)盟
- 【發(fā)布日期】1997-10-24
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
MIL DSCC 5962-96583B
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 TTL兼容輸入 單片硅（取代DESC 5962-96583）
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-03-20
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
MIL DESC 5962-87562A
單片硅12位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器檢測(cè)器ECL數(shù)字微電路（取代DESC 5962-87562）
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1989-03-30
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
MIL DESC 5962-96582
微電路 數(shù)字 抗輻射 高級(jí)CMOS 9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器 單片硅（S/S由DSCC 5962-96582B提供）
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1996-05-20
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
MIL DESC 5962-96583
微電路、數(shù)字、抗輻射、高級(jí)CMOS、9位奇偶校驗(yàn)發(fā)生器/檢測(cè)器、TTL兼容輸入、單片硅（由DSCC 5962-96583B提供）
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 US-MIL美國(guó)軍事規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1996-05-20
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
AS 2742-1984
信息處理.使用縱向奇偶校驗(yàn)檢測(cè)信息報(bào)文中的錯(cuò)誤
- 【發(fā)布單位或類(lèi)別】 AU-AS澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】1984-01-01
- 【CCS分類(lèi)】
- 【ICS分類(lèi)】
我們的優(yōu)勢(shì)
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儀器齊全
北檢院實(shí)驗(yàn)室百余臺(tái)大型試驗(yàn)儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標(biāo)試驗(yàn)的工裝定制服務(wù)。
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技術(shù)經(jīng)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)室工程師有著豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，無(wú)論是常規(guī)樣品還是科研樣品，都有定制化試驗(yàn)方案。
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領(lǐng)域廣泛
服務(wù)覆蓋領(lǐng)域廣，主要包括：材料，能源，性能測(cè)試，醫(yī)藥領(lǐng)域，生物，動(dòng)物，植物等科研項(xiàng)目領(lǐng)域。
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售后支持
我們提供強(qiáng)大的后期技術(shù)支持，如果您對(duì)于報(bào)告有疑問(wèn)或者對(duì)于試驗(yàn)有疑問(wèn)，我們可以為您提供完善的解答服務(wù)。
實(shí)驗(yàn)儀器
測(cè)試流程
注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢(xún)我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對(duì)于（校驗(yàn)檢測(cè)執(zhí)行檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢(xún)我們的工程師為您一一解答。
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服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
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定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
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保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶(hù)隱私
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全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門(mén)取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)
