俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區域的通則

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2015-05-15
• 【CCS分類】N26綜合測試系統
• 【ICS分類】17.220.20電和磁量值的測量

無損檢測 X射線管電壓的測量和評價 第3部分：能譜法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2021-12-31
• 【CCS分類】J04基礎標準與通用方法
• 【ICS分類】19.100無損檢測

進出口食品中殺線威等12種氨基甲酸酯類農藥殘留量的檢測方法 液相色譜-質譜/質譜法

• 【發布單位或類別】 CN-SN行業標準-商品檢驗
• 【發布日期】2010-11-01
• 【CCS分類】X04基礎標準與通用方法
• 【ICS分類】67.050食品試驗和分析的一般方法

表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2013-07-19
• 【CCS分類】G04基礎標準與通用方法
• 【ICS分類】71.040.40化學分析

無損檢測儀器 X射線管電壓的測量和評定 第3部分：能譜檢測

• 【發布單位或類別】 CN-JB行業標準-機械
• 【發布日期】2013-12-31
• 【CCS分類】N78Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
• 【ICS分類】19.100無損檢測

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2018-03-15
• 【CCS分類】D51化工原料礦
• 【ICS分類】食品試驗和分析的一般方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2016-10-13
• 【CCS分類】G40橡膠制品綜合
• 【ICS分類】化學分析

進出口食品中苯線磷殘留量的檢測方法 氣相色譜-質譜法

• 【發布單位或類別】 CN-SN行業標準-商品檢驗
• 【發布日期】2008-09-04
• 【CCS分類】X04基礎標準與通用方法
• 【ICS分類】67.050物理化學分析方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2018-03-15
• 【CCS分類】N35光學測試儀器
• 【ICS分類】半導體材料

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2009-07-15
• 【CCS分類】D33鉻礦
• 【ICS分類】

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2009-07-15
• 【CCS分類】7306030無機化工原料綜合
• 【ICS分類】

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2018-12-28
• 【CCS分類】G10基礎標準與通用方法
• 【ICS分類】

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】
• 【CCS分類】貴金屬及其合金分析方法
• 【ICS分類】

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2019-06-04
• 【CCS分類】貴金屬及其合金
• 【ICS分類】

表面化學分析 X射線光電子能譜 均勻材料中元素檢測限的評估和報告

• 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
• 【發布日期】2023-12-28
• 【CCS分類】G04貴金屬及其合金分析方法
• 【ICS分類】71.040.40

用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區域的標準實踐

• 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
• 【發布日期】2019-11-01
• 【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
• 【ICS分類】71.040.50

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2008-03-31
• 【CCS分類】H15
• 【ICS分類】

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2008-03-31
• 【CCS分類】H68
• 【ICS分類】

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2008-03-31
• 【CCS分類】H15
• 【ICS分類】

重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質譜檢測方法

• 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
• 【發布日期】2009-10-30
• 【CCS分類】H80
• 【ICS分類】29.045