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廠區噪聲檢測方法檢測標準

原創發布者:北檢院    發布時間:2025-02-05     點擊數:

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\u0413\u041e\u0421\u0422 31297-2005

噪聲 確定多源工業廠區聲功率水平評估環境聲壓級的工程方法

  • 【發布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標準
  • 【發布日期】2005-12-09
  • 【CCS分類】Z10/39環境保護采樣、分析測試方法
  • 【ICS分類】17.140.20機器和設備的噪聲

MIL MIL-STD-202/217

217號方法 顆粒碰撞噪聲檢測(PIND)

  • 【發布單位或類別】 US-MIL美國軍事規范和標準
  • 【發布日期】2015-04-18
  • 【CCS分類】半導體分立器件綜合
  • 【ICS分類】術語學(原則和協調配合)

T/SASJL 0023-2024

寒區自動駕駛公交車振動噪聲檢測方法

  • 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發布日期】2024-05-15
  • 【CCS分類】基礎標準
  • 【ICS分類】01.020半導體器分立件綜合

20201542-T-339

半導體器件 機械和氣候試驗方法 第16部分:粒子碰撞噪聲檢測(PIND)

  • 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
  • 【發布日期】2020-04-01
  • 【CCS分類】L40基礎標準與通用方法
  • 【ICS分類】31.080.01統計方法的應用

KS Q ISO 11843-7-2019

檢測能力——第7部分:基于儀器噪聲隨機特性的方法

  • 【發布單位或類別】 KR-KS韓國標準
  • 【發布日期】2019-12-19
  • 【CCS分類】半導體分立器件
  • 【ICS分類】半導體器分立件綜合

ISO 11843-7:2018

檢測能力 - 第7部分:基于儀器噪聲隨機特性的方法學

  • 【發布單位或類別】 IX-ISO國際標準化組織
  • 【發布日期】2018-09-05
  • 【CCS分類】冶金
  • 【ICS分類】03.120.30半導體器分立件綜合

KS Q ISO 11843-7-2019

檢測能力 - 第7部分:基于儀器噪聲隨機特性的方法論

  • 【發布單位或類別】 KR-KS韓國標準
  • 【發布日期】2019-12-19
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】半導體器分立件綜合

KS C IEC 60749-16-2006

半導體器件機械和氣候試驗方法第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測(PIND)

  • 【發布單位或類別】 KR-KS韓國標準
  • 【發布日期】2006-11-30
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】31.080.01統計方法的應用

KS C IEC 60749-16-2006

半導體器件機械和氣候試驗方法第16部分:粒子碰撞噪聲檢測(PIND)

  • 【發布單位或類別】 KR-KS韓國標準
  • 【發布日期】2006-11-30
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】31.080.01無損檢測

BS ISO 11843-7:2012

檢測能力 基于儀器噪聲隨機特性的方法

  • 【發布單位或類別】 GB-BSI英國標準學會
  • 【發布日期】2012-06-30
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】二極管

IEC 60749-16:2003

半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第16部分:粒子撞擊噪聲檢測(PIND)

  • 【發布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
  • 【發布日期】2003-01-17
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】31.080.01金屬材料無損檢測

UNE-EN 60749-16:2003

半導體器件 機械和氣候試驗方法 第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測(PIND)

  • 【發布單位或類別】 ES-UNE西班牙標準
  • 【發布日期】2003-11-21
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u0418\u0421\u041e 11843-7-2014

統計方法 檢測能力第7部分考慮到背景噪聲的估計方法

  • 【發布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標準
  • 【發布日期】
  • 【CCS分類】A20/39
  • 【ICS分類】03.120.30

20230767-T-469

無損檢測 地面管線及廠區管道軸向長距離導波檢測

  • 【發布單位或類別】 CN-PLAN國家標準計劃
  • 【發布日期】2023-08-06
  • 【CCS分類】J04
  • 【ICS分類】19.100

DIN EN 60749-16

半導體器件.機械和氣候試驗方法.第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測(PIND)(IEC 60749-16-2003);德文版EN 60749-16:2003

  • 【發布單位或類別】 DE-DIN德國標準化學會
  • 【發布日期】2003-09-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

BS 10/30204127 DC

BS ISO 11843-7 檢測能力 第七部分 基于儀器噪聲隨機特性的方法

  • 【發布單位或類別】 GB-BSI英國標準學會
  • 【發布日期】2010-11-26
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

JJF 1220-2009

顆粒碰撞噪聲檢測系統校準規范

  • 【發布單位或類別】 CN-JJF國家計量技術規范
  • 【發布日期】2009-08-18
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

\u0413\u041e\u0421\u0422 19656.5-74

半導體UHF混合器和檢測器二極管 輸出噪聲比的測量方法

  • 【發布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標準
  • 【發布日期】
  • 【CCS分類】L40/49
  • 【ICS分類】31.080.10

JJG 310006-2006

元器件粒子碰撞噪聲檢測儀檢定規程

  • 【發布單位或類別】 CN-JJG國家計量檢定規程
  • 【發布日期】2006-05-16
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】

T/CSTM 00210-2020

無損檢測 磁巴克豪森噪聲檢測

  • 【發布單位或類別】 CN-TUANTI團體標準
  • 【發布日期】2020-09-25
  • 【CCS分類】H
  • 【ICS分類】77.040.20

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

廠區噪聲檢測方法檢測標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(廠區噪聲檢測方法檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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