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顯卡檢測(cè)顯示的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2025-02-09     點(diǎn)擊數(shù):

獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見諒。

GB/T 29711-2013

焊縫無損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 焊縫中的顯示特征

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2013-09-18
  • 【CCS分類】J33焊接與切割
  • 【ICS分類】25.160.40焊接接頭

KS B 0816-2021

液體滲透檢測(cè)方法和滲透顯示的分類

  • 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2021-03-25
  • 【CCS分類】量具與量?jī)x
  • 【ICS分類】19.040環(huán)境試驗(yàn)

GB/T 21389-2008

游標(biāo)、帶表和數(shù)顯卡尺

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2008-02-02
  • 【CCS分類】J42輸變電設(shè)備綜合
  • 【ICS分類】17.040.30測(cè)量?jī)x器儀表

JIS Z 2343-1:2017

無損檢測(cè)滲透檢測(cè)第1部分:一般原則液體滲透檢測(cè)方法和滲透顯示的分類

  • 【發(fā)布單位或類別】 JP-JSA日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2017-01-01
  • 【CCS分類】量具與量?jī)x
  • 【ICS分類】金屬材料化學(xué)分析

AS 4749-2007

無損檢測(cè).射線照相顯示的熔焊缺陷的術(shù)語(yǔ)和縮寫

  • 【發(fā)布單位或類別】 AU-AS澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2007-10-26
  • 【CCS分類】計(jì)算機(jī)外圍設(shè)備
  • 【ICS分類】電工和電子試驗(yàn)

KS D 0213-2018

鐵磁性材料的磁粉檢測(cè)方法和磁粉顯示的分類

  • 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2018-12-17
  • 【CCS分類】量具與量?jī)x
  • 【ICS分類】77.040.30計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合

T/SEPA 10-2024

基于帶電顯示器的高壓開關(guān)柜局部放電帶電檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用導(dǎo)則

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2024-01-25
  • 【CCS分類】K40通信設(shè)備
  • 【ICS分類】19.080電子顯示器件

GB/T 14899-1994

電子數(shù)顯卡尺

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】1994-01-05
  • 【CCS分類】J42基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】17.020測(cè)量?jī)x器儀表

SN/T 1667.2-2007

進(jìn)出口機(jī)電產(chǎn)品檢測(cè)方法 第2部分:彩色液晶顯示器件電光性能的測(cè)量

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-SN行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)
  • 【發(fā)布日期】2007-12-24
  • 【CCS分類】L63焊接與切割
  • 【ICS分類】31.120射線照相設(shè)備

JIS G 0565:1992

鐵磁性材料的磁粉檢測(cè)方法和磁粉顯示的分類

  • 【發(fā)布單位或類別】 JP-JSA日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)
  • 【發(fā)布日期】1992-01-01
  • 【CCS分類】基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】無損檢測(cè)

BS EN 61223-2-5:1995

醫(yī)學(xué)影像部門的評(píng)估和常規(guī)檢測(cè) 恒常性測(cè)試 用于圖像顯示設(shè)備的方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
  • 【發(fā)布日期】1995-02-15
  • 【CCS分類】基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】焊接接頭

T/ZZB 2820-2022

數(shù)顯卡尺

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-12-08
  • 【CCS分類】J42基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
  • 【ICS分類】17.040.30無損檢測(cè)

JIS Z 2343-1:2001

無損檢測(cè)滲透檢測(cè)第1部分:一般原則液體滲透檢測(cè)方法和滲透顯示的分類

  • 【發(fā)布單位或類別】 JP-JSA日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)
  • 【發(fā)布日期】2001-01-01
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】無損檢測(cè)

UNE-EN 61223-2-5:1996

醫(yī)學(xué)影像部門的評(píng)估和常規(guī)檢測(cè) 第2-5部分:穩(wěn)定性試驗(yàn) 圖像顯示設(shè)備

  • 【發(fā)布單位或類別】 ES-UNE西班牙標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】1996-10-14
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】無損檢測(cè)

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 51817-2001

醫(yī)學(xué)影像部門的評(píng)估和常規(guī)檢測(cè) 第2-5部分 常數(shù)cb5f測(cè)試圖像4568顯示設(shè)備

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】M30/49
  • 【ICS分類】11.040.50

GB/T 32563-2016

無損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 相控陣超聲檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2016-02-24
  • 【CCS分類】J04
  • 【ICS分類】19.100

GB/T 11345-2023

焊縫無損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)和評(píng)定

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2023-11-27
  • 【CCS分類】J33
  • 【ICS分類】25.160.40

GB/T 12604.6-2021

無損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 渦流檢測(cè)

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2021-05-21
  • 【CCS分類】J04
  • 【ICS分類】19.100

GB/T 35388-2017

無損檢測(cè) X射線數(shù)字成像檢測(cè) 檢測(cè)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2017-12-29
  • 【CCS分類】J04
  • 【ICS分類】19.100

GB/T 5097-2020

無損檢測(cè) 滲透檢測(cè)和磁粉檢測(cè) 觀察條件

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2020-07-21
  • 【CCS分類】J04
  • 【ICS分類】19.100

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

顯卡檢測(cè)顯示的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(顯卡檢測(cè)顯示的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議,嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
  • 全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)