當(dāng)前位置：首頁 > 檢測項目 > 非標(biāo)實驗室 > 檢測標(biāo)準(zhǔn)
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試望見諒。
DB32/T 4894-2024
微機(jī)電系統(tǒng)半導(dǎo)體氣體傳感器性能檢測方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-DB32江蘇省地方標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-11-07
- 【CCS分類】L40半導(dǎo)體分立器件綜合
- 【ICS分類】31.080半導(dǎo)體分立器件
GB/T 43493.2-2023
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第2部分：缺陷的光學(xué)檢測方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 43493.3-2023
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第3部分：缺陷的光致發(fā)光檢測方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 43493.1-2023
半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無損檢測識別判據(jù) 第1部分：缺陷分類
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-12-28
- 【CCS分類】L90電子技術(shù)專用材料
- 【ICS分類】31.080.99其他半導(dǎo)體分立器件
GB/T 37131-2018
T/SZBSIA 007-2022
IC類半導(dǎo)體固晶機(jī)檢測規(guī)范
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2022-09-23
- 【CCS分類】微電路綜合
- 【ICS分類】集成電路、微電子學(xué)
T/CZSBDTHYXH 001-2023
半導(dǎo)體晶圓缺陷自動光學(xué)檢測設(shè)備
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2023-08-08
- 【CCS分類】半導(dǎo)體分立器件綜合
- 【ICS分類】29.045信息技術(shù)應(yīng)用綜合
T/CIE 120-2021
半導(dǎo)體集成電路硬件木馬檢測方法
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-11-22
- 【CCS分類】L55金屬物理性能試驗方法
- 【ICS分類】31.200半導(dǎo)體器分立件綜合
T/QGCML 3970-2024
半導(dǎo)體車間金屬粉塵智能檢測分析系統(tǒng)
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-03-28
- 【CCS分類】機(jī)械
- 【ICS分類】35.240.01其他半導(dǎo)體分立器件
20201542-T-339
半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗方法 第16部分：粒子碰撞噪聲檢測（PIND）
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-PLAN國家標(biāo)準(zhǔn)計劃
- 【發(fā)布日期】2020-04-01
- 【CCS分類】L40電氣照明
- 【ICS分類】31.080.01包裝機(jī)械
IEC 63364-1:2022
半導(dǎo)體器件物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)用半導(dǎo)體器件第1部分:聲音變化檢測的試驗方法
- 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
- 【發(fā)布日期】2022-12-14
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.99流體存儲裝置綜合
GB/T 40296-2021
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2021-08-20
- 【CCS分類】H21
- 【ICS分類】流體存儲裝置綜合
T/CASME 1447-2024
半導(dǎo)體與電子領(lǐng)域封裝用高精度智能視覺檢測機(jī)通用技術(shù)要求
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-04-28
- 【CCS分類】J
- 【ICS分類】55.200有關(guān)燈的其他標(biāo)準(zhǔn)
T/CHPSA YY005-2024
半導(dǎo)體超純聚合物過流部件污染物檢測及表面粗糙度技術(shù)要求
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-11-01
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】23.020.01半導(dǎo)體器分立件綜合
T/CMES 24021-2024
半導(dǎo)體超純聚合物過流部件污染物檢測及表面粗糙度技術(shù)要求
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2024-12-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】23.020.01半導(dǎo)體器分立件綜合
T/CSA 004-2010
半導(dǎo)體照明試點示范工程LED道路和隧道照明現(xiàn)場檢測及驗收實施細(xì)則
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-TUANTI團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2010-07-20
- 【CCS分類】K70/79
- 【ICS分類】29.140.99
JJG 310003-2006
半導(dǎo)體分立器件電容參數(shù)測試儀檢定規(guī)程
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JJG國家計量檢定規(guī)程
- 【發(fā)布日期】2006-05-16
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
JJG 310002-2006
半導(dǎo)體分立器件直流參數(shù)測試儀檢定規(guī)程
- 【發(fā)布單位或類別】 CN-JJG國家計量檢定規(guī)程
- 【發(fā)布日期】2006-05-16
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】
KS C IEC 60749-16-2006
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第16部分:顆粒碰撞噪聲檢測（PIND）
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-11-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.01
KS C IEC 60749-16-2006
半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法第16部分:粒子碰撞噪聲檢測（PIND）
- 【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
- 【發(fā)布日期】2006-11-30
- 【CCS分類】
- 【ICS分類】31.080.01
實驗儀器
測試流程
注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對于（半導(dǎo)體檢測 檢測標(biāo)準(zhǔn)）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
-
服務(wù)保障 一對一品質(zhì)服務(wù)
-
定制方案 提供非標(biāo)定制試驗方案
-
保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
-
全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現(xiàn)場試驗
