獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。
無損檢測儀器 相控陣超聲設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第1部分:儀器
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-03-17
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【CCS分類】N77超聲波與聲放射探傷儀器
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【ICS分類】19.100無損檢測
無損檢測儀器 相控陣超聲檢測系統(tǒng)的性能與檢驗(yàn)
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2012-12-31
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【CCS分類】N78X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
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【ICS分類】19.100無損檢測
產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 表面結(jié)構(gòu) 區(qū)域法 第603部分:非接觸(相移干涉顯微)式儀器的標(biāo)稱特性
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2022-12-30
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【CCS分類】J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
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【ICS分類】17.040.20表面特征
納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法通則
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2011-10-31
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【CCS分類】C40醫(yī)用光學(xué)儀器設(shè)備與內(nèi)窺鏡
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【ICS分類】71.040.99有關(guān)分析化學(xué)的其他標(biāo)準(zhǔn)
無損檢測 超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第1部分:儀器
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2011-12-30
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【CCS分類】N77超聲波與聲放射探傷儀器
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【ICS分類】19.100無損檢測
用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2015-12-10
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【CCS分類】A40基礎(chǔ)學(xué)科綜合
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【ICS分類】07.030物理學(xué)、化學(xué)
活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2012-11-05
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【CCS分類】A60光學(xué)計(jì)量
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【ICS分類】17.180光學(xué)和光學(xué)測量
納米顆粒生物形貌效應(yīng)的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測方法通則
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2012-11-05
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【CCS分類】A60光學(xué)計(jì)量
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【ICS分類】17.180光學(xué)和光學(xué)測量
金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2017-09-07
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【CCS分類】G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
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【ICS分類】71.040.40化學(xué)分析
光學(xué)和光學(xué)儀器顯微鏡立體顯微鏡的檢驗(yàn)
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【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-11-01
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【CCS分類】纖維作物與產(chǎn)品
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【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備
黃麻、紅麻纖維線密度的快速檢測 顯微圖像法
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【發(fā)布單位或類別】 CN-NY行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-農(nóng)業(yè)
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【發(fā)布日期】2015-12-29
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【CCS分類】B32電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
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【ICS分類】65.020農(nóng)業(yè)和林業(yè)
光學(xué)和光學(xué)儀器 - 顯微鏡 - 立體顯微鏡的測試
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【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2018-06-11
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【CCS分類】
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【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備
塑料 用于硬度測量的儀器化顯微壓痕試驗(yàn)
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【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2019-04-26
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【CCS分類】
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【ICS分類】光學(xué)設(shè)備
光學(xué)和光學(xué)儀器.顯微鏡.偏振光顯微鏡的參考系統(tǒng)
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【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2023-03-20
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【CCS分類】
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【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備
光學(xué)和光學(xué)儀器.顯微鏡.偏振光顯微鏡的參考系統(tǒng)
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【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2006-06-09
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【CCS分類】
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【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備
光學(xué)和光學(xué)儀器 顯微鏡 體視顯微鏡的檢驗(yàn)
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【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
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【發(fā)布日期】2000-06-15
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【CCS分類】
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【ICS分類】光學(xué)設(shè)備
光學(xué)和光學(xué)儀器——顯微鏡——體視顯微鏡的檢驗(yàn)
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【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
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【發(fā)布日期】2000-04-13
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【CCS分類】
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【ICS分類】37.020光學(xué)和光學(xué)測量
光學(xué)和光學(xué)儀器——顯微鏡——立體顯微鏡的標(biāo)記
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【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
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【發(fā)布日期】1997-04-10
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【CCS分類】
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【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備
83/437/EEC:1983年8月10日的委員會(huì)決定 確定“Hitachi-透射電子顯微鏡 型號(hào)H700H 帶掃描附件和X射線能量色散檢測器”的儀器不得免稅進(jìn)口
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【發(fā)布單位或類別】 IX-EURLEX歐洲技術(shù)法規(guī)
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【發(fā)布日期】1983-08-10
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【CCS分類】N33
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【ICS分類】17.180
光學(xué)和光學(xué)儀器顯微鏡物鏡和目鏡的標(biāo)記
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【發(fā)布單位或類別】 KR-KS韓國標(biāo)準(zhǔn)
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【發(fā)布日期】2016-11-28
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【CCS分類】
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【ICS分類】37.020

實(shí)驗(yàn)儀器
測試流程

注意事項(xiàng)
1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。
2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。
3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(檢測顯微儀器的檢測標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。