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光學(xué)元件檢測與檢測標(biāo)準(zhǔn)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時間:2025-02-21     點(diǎn)擊數(shù):

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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。

GB/T 41805-2022

光學(xué)元件表面疵病定量檢測方法 顯微散射暗場成像法

  • 【發(fā)布單位或類別】 CN-GB國家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】2022-10-12
  • 【CCS分類】N05儀器、儀表用材料和元件
  • 【ICS分類】81.040.01玻璃綜合

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 59420-2021

光學(xué)與光子學(xué) 光學(xué)元件 表面缺陷 視覺控制

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】A20/39基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備

ISO/TR 16743:2013

光學(xué)與光子學(xué)——表征光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)元件的波前傳感器

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2013-03-15
  • 【CCS分類】基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)
  • 【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 51036-2021

光學(xué)與光子學(xué) 電光元件 電光參數(shù)測量方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】A20/39光學(xué)儀器
  • 【ICS分類】31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 59737-2021

光學(xué)與光子學(xué) 在軸元件上計(jì)算機(jī)生成的光學(xué)全息圖 一般規(guī)格

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】N30/39光學(xué)儀器
  • 【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備

ISO 10110-17:2004

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件和系統(tǒng)圖紙的編制SPART 17:激光輻照損傷閾值

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2004-03-05
  • 【CCS分類】光學(xué)儀器
  • 【ICS分類】31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

ISO/TR 14999-1:2005

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)的干涉測量SPART 1:術(shù)語、定義和基本關(guān)系

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2005-03-16
  • 【CCS分類】光學(xué)儀器
  • 【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備

ISO/TR 22588:2005

光學(xué)與光子學(xué)——激光和激光相關(guān)設(shè)備——激光光學(xué)元件中吸收誘導(dǎo)效應(yīng)的測量與評價(jià)

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2005-09-07
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 59422.2-2021

光學(xué)與光子學(xué) 激光和激光相關(guān)設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)元件 第二部分 在紅外光譜范圍內(nèi)工作的激光設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)元件 一般技術(shù)要求

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】N30/39
  • 【ICS分類】31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

IEC 62150-4:2009

纖維光學(xué)有源元件和器件.試驗(yàn)和測量程序.第4部分:使用時域光學(xué)檢測系統(tǒng)的相對強(qiáng)度噪聲

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-IEC國際電工委員會
  • 【發(fā)布日期】2009-11-20
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】33.180.20纖維光學(xué)和光學(xué)互連器件

BS PD ISO/TR 22588:2005

光學(xué)和光子學(xué) 激光和激光相關(guān)設(shè)備 激光光學(xué)元件中吸收誘導(dǎo)效應(yīng)的測量與評價(jià)

  • 【發(fā)布單位或類別】 GB-BSI英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會
  • 【發(fā)布日期】2006-01-09
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】光學(xué)設(shè)備

ISO/TR 14999-3:2005

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)的干涉測量SPART 3:干涉測量測試設(shè)備和測量的校準(zhǔn)和驗(yàn)證

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2005-03-16
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】37.020光電子學(xué)、激光設(shè)備

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 59422.1-2021

光學(xué)與光子學(xué) 激光和激光相關(guān)設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)元件 第一部分 在紫外、可見和近紅外光譜范圍內(nèi)工作的激光設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)元件 一般技術(shù)要求

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】N30/39
  • 【ICS分類】31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 59742-2021

光學(xué)與光子學(xué) 激光和激光相關(guān)設(shè)備 激光設(shè)備用光學(xué)元件 鏡面反射和規(guī)則透射率的試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 RU-GOST俄羅斯國家標(biāo)準(zhǔn)
  • 【發(fā)布日期】
  • 【CCS分類】N30/39
  • 【ICS分類】31.260光學(xué)設(shè)備

ISO 14997:2011

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件表面缺陷的試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2011-04-12
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】37.020光電子學(xué)、激光設(shè)備

ISO 13697:2006

光學(xué)與光子學(xué)——激光和激光相關(guān)設(shè)備——光學(xué)激光元件鏡面反射和規(guī)則透射率的試驗(yàn)方法

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2006-05-10
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】31.260光學(xué)設(shè)備

ISO 10110-10:2004

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件和系統(tǒng)圖紙的編制SPART 10:表示光學(xué)元件和膠結(jié)組件數(shù)據(jù)的表格

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2004-02-09
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備

ISO 10110-12:2007

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件和系統(tǒng)圖紙的編制SPART 12:非球面

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2007-08-23
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備

ISO 10110-7:2008

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件和系統(tǒng)圖紙的編制SPART 7:表面缺陷公差

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2008-02-11
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】37.020光學(xué)設(shè)備

ISO 10110-14:2007

光學(xué)與光子學(xué)——光學(xué)元件和系統(tǒng)圖紙的編制Spart 14:波前變形公差

  • 【發(fā)布單位或類別】 IX-ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
  • 【發(fā)布日期】2007-09-13
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】37.020

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測試流程

光學(xué)元件檢測與檢測標(biāo)準(zhǔn)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(光學(xué)元件檢測與檢測標(biāo)準(zhǔn))還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議,嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
  • 全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現(xiàn)場試驗(yàn)