獲取試驗方案?獲取試驗報價?獲取試驗周期?
注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
硅片流動圖形缺陷的檢測 腐蝕法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2023-11-27
-
【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
-
【ICS分類】77.040金屬材料試驗
硅片上淺蝕坑檢測的標準實施規程
-
【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
-
【發布日期】2000-06-10
-
【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
拋光硅片中氧化缺陷檢測的標準實施規程
-
【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
-
【發布日期】1997-06-10
-
【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
硅片上淺層蝕刻坑檢測的標準實踐(2003年撤回)
-
【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
-
【發布日期】2002-12-10
-
【CCS分類】元素半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
IEEE/ANSI美國國家標準初始響應輻射/核檢測培訓
-
【發布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學會
-
【發布日期】2019-12-12
-
【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】半導體材料
硅片字母數字標志規范
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2017-10-14
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
硅片切口尺寸測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2011-01-10
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
硅片直徑測量方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2009-10-30
-
【CCS分類】H82半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
硅片彎曲度測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2009-10-30
-
【CCS分類】H80元素半導體材料
-
【ICS分類】29.045半導體材料
美國聲場中聽力閾值和信號可檢測性測量國家標準
-
【發布單位或類別】 US-ASA美國聲協會
-
【發布日期】2016-01-06
-
【CCS分類】元素半導體材料
-
【ICS分類】半導體材料
硅片包裝
-
【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
-
【發布日期】2015-04-30
-
【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
-
【ICS分類】29.045半導體材料
美國國家標準放射性核素檢測和識別手持儀器性能標準
-
【發布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學會
-
【發布日期】2021-08-16
-
【CCS分類】污染控制技術規范
-
【ICS分類】半導體材料
硅片訂貨單格式輸入規范
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2015-12-10
-
【CCS分類】H80金屬物理性能試驗方法
-
【ICS分類】29.045半導體材料
硅片表面平整度測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2009-10-30
-
【CCS分類】H80
-
【ICS分類】29.045半導體材料
國家航空航天和國防承包商無損檢測認證計劃要求
-
【發布單位或類別】 US-SAE美國機動車工程師協會
-
【發布日期】2008-08-07
-
【CCS分類】
-
【ICS分類】液態廢物、淤泥
太陽能電池用多晶硅片
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2019-06-04
-
【CCS分類】H82
-
【ICS分類】29.045金屬材料試驗
硅片翹曲度非接觸式測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2009-10-30
-
【CCS分類】H82
-
【ICS分類】29.045
硅片厚度和總厚度變化測試方法
-
【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
-
【發布日期】2009-10-30
-
【CCS分類】H80
-
【ICS分類】29.045
硅片切割廢液處理處置方法
-
【發布單位或類別】 CN-HG行業標準-化工
-
【發布日期】2021-08-21
-
【CCS分類】Z05
-
【ICS分類】13.030.20
硅片邊緣輪廓檢驗方法
-
【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
-
【發布日期】2016-07-11
-
【CCS分類】H21
-
【ICS分類】77.040

實驗儀器
測試流程

注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(硅片檢測國家檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。