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硅片檢測國家檢測標準

原創發布者:北檢院    發布時間:2025-02-23     點擊數:

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GB/T 43315-2023

硅片流動圖形缺陷的檢測 腐蝕法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2023-11-27
  • 【CCS分類】H21金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】77.040金屬材料試驗

ASTM F1049-00

硅片上淺蝕坑檢測的標準實施規程

  • 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
  • 【發布日期】2000-06-10
  • 【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

ASTM F1727-97

拋光硅片中氧化缺陷檢測的標準實施規程

  • 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
  • 【發布日期】1997-06-10
  • 【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

ASTM F1049-02

硅片上淺層蝕刻坑檢測的標準實踐(2003年撤回)

  • 【發布單位或類別】 US-ASTM美國材料與試驗協會
  • 【發布日期】2002-12-10
  • 【CCS分類】元素半導體材料
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

IEEE/ANSI N42.60-2019

IEEE/ANSI美國國家標準初始響應輻射/核檢測培訓

  • 【發布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學會
  • 【發布日期】2019-12-12
  • 【CCS分類】半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】半導體材料

GB/T 34479-2017

硅片字母數字標志規范

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2017-10-14
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 26067-2010

硅片切口尺寸測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2011-01-10
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 14140-2009

硅片直徑測量方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H82半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 6619-2009

硅片彎曲度測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80元素半導體材料
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

ASA S3.52-2016

美國聲場中聽力閾值和信號可檢測性測量國家標準

  • 【發布單位或類別】 US-ASA美國聲協會
  • 【發布日期】2016-01-06
  • 【CCS分類】元素半導體材料
  • 【ICS分類】半導體材料

YS/T 28-2015

硅片包裝

  • 【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
  • 【發布日期】2015-04-30
  • 【CCS分類】H80半金屬與半導體材料綜合
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

IEEE/ANSI N42.34-2021

美國國家標準放射性核素檢測和識別手持儀器性能標準

  • 【發布單位或類別】 US-IEEE美國電氣電子工程師學會
  • 【發布日期】2021-08-16
  • 【CCS分類】污染控制技術規范
  • 【ICS分類】半導體材料

GB/T 32279-2015

硅片訂貨單格式輸入規范

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2015-12-10
  • 【CCS分類】H80金屬物理性能試驗方法
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

GB/T 6621-2009

硅片表面平整度測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80
  • 【ICS分類】29.045半導體材料

SAE AS7114A

國家航空航天和國防承包商無損檢測認證計劃要求

  • 【發布單位或類別】 US-SAE美國機動車工程師協會
  • 【發布日期】2008-08-07
  • 【CCS分類】
  • 【ICS分類】液態廢物、淤泥

GB/T 29055-2019

太陽能電池用多晶硅片

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2019-06-04
  • 【CCS分類】H82
  • 【ICS分類】29.045金屬材料試驗

GB/T 6620-2009

硅片翹曲度非接觸式測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H82
  • 【ICS分類】29.045

GB/T 6618-2009

硅片厚度和總厚度變化測試方法

  • 【發布單位或類別】 CN-GB國家標準
  • 【發布日期】2009-10-30
  • 【CCS分類】H80
  • 【ICS分類】29.045

HG/T 5962-2021

硅片切割廢液處理處置方法

  • 【發布單位或類別】 CN-HG行業標準-化工
  • 【發布日期】2021-08-21
  • 【CCS分類】Z05
  • 【ICS分類】13.030.20

YS/T 26-2016

硅片邊緣輪廓檢驗方法

  • 【發布單位或類別】 CN-YS行業標準-有色金屬
  • 【發布日期】2016-07-11
  • 【CCS分類】H21
  • 【ICS分類】77.040

實驗儀器

實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器 實驗室儀器

測試流程

硅片檢測國家檢測標準流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。

3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對于(硅片檢測國家檢測標準)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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