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GB/T 41869.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列 第2部分:波前像差的測(cè)試方法

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2023-02-06     點(diǎn)擊數(shù):

獲取試驗(yàn)方案?獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)?獲取試驗(yàn)周期?

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 41869.2-2022
發(fā)布日期:2022-10-14
實(shí)施日期:2023-05-01
標(biāo)準(zhǔn)類別:方法
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):L51
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào): 31 電子學(xué) 31.260 光電子學(xué)、激光設(shè)備
歸口單位:全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位:全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門(mén):中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)

擴(kuò)展閱讀:本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):ISO 14880-2:2006。采標(biāo)中文名稱:光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列 第2部分:波前像差的測(cè)試方法。

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實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

GB/T 41869.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列 第2部分:波前像差的測(cè)試方法流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(GB/T 41869.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列 第2部分:波前像差的測(cè)試方法)還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

  • 服務(wù)保障 一對(duì)一品質(zhì)服務(wù)
  • 定制方案 提供非標(biāo)定制試驗(yàn)方案
  • 保密協(xié)議 簽訂保密協(xié)議,嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
  • 全國(guó)取樣/寄樣 全國(guó)上門(mén)取樣/寄樣/現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)