光學和光學儀器環境試驗方法第3部分：機械作用力GB/T12085.3-2010

光學和光學儀器 參考波長GB/T 10050-1988

光學和光學儀器 參考波長GB/T 10050-2009

光學和光學儀器 環境要求 總則、定義、氣候帶及其參數GB/T 16492-1996

光學和光學儀器 光學薄膜 第1部分：定義GB/T 26332.1-2010

光學和光學儀器 大地測量儀器 術語GB/T 26596-2011

光學和光學儀器 焦度計GB/T 17341-1998

光學和光學儀器 環境試驗方法 第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗GB/T 12085.10-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第11部分：長霉GB/T 12085.11-2010

光學和光學儀器環境試驗方法第2部分：低溫、高溫、濕熱GB/T12085.2-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍GB/T 12085.1-2010

光學和光學儀器環境試驗方法第15部分：寬帶隨機振動(數字控制)與高溫、低溫綜合試驗GB/T12085.15-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第12部分：污染GB/T 12085.12-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗GB/T 12085.13-2010

光學和光學儀器環境試驗方法第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗GB/T12085.16-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第14部分：露、霜、冰GB/T 12085.14-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動(數字控制)與高溫、低溫綜合試驗GB/T 12085.15-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗GB/T 12085.16-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗GB/T 12085.17-2011

光學和光學儀器環境試驗方法第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗GB/T12085.17-2011

光學和光學儀器 環境試驗方法 第18部分：濕熱、低內壓綜合試驗GB/T 12085.18-2011

光學和光學儀器 環境試驗方法 第19部分：溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗GB/T 12085.19-2011

光學和光學儀器環境試驗方法第10部分：:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗GB/T12085.10-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第20部分：含二氧化硫、硫化氫的濕空氣GB/T 12085.20-2011

光學和光學儀器 環境試驗方法 第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗GB/T 12085.21-2011

光學和光學儀器環境試驗方法第19部分：溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗GB/T12085.19-2011

光學和光學儀器 環境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱GB/T 12085.2-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第3部分：機械作用力GB/T 12085.3-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第4部分：鹽霧GB/T 12085.4-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗GB/T 12085.5-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第6部分：砂塵GB/T 12085.6-2010

光學和光學儀器 環境試驗方法 第7部分：滴水、淋雨GB/T 12085.7-2010

光學和光學儀器環境試驗方法第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗GB/T12085.13-2010

光學和光學儀器環境試驗方法第20部分：含二氧化硫、硫化氫的濕空氣GB/T12085.20-2011

光學和光學儀器環境試驗方法第4部分：鹽霧GB/T12085.4-2010

光學和光學儀器環境試驗方法第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗GB/T12085.21-2011

光學和光學儀器環境試驗方法第9部分：太陽輻射GB/T12085.9-2010