注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
檢測樣品:電子電氣-電子元器件半導體分立器件
檢測周期:7-15個工作日,試驗可加急
變頻振動熱沖擊(溫度循環)鹽氣(侵蝕)鹽霧(侵蝕)綜合溫度/濕度周期試驗掃頻振動溫度循環(空氣-空氣)鹽霧(腐蝕)耐濕晶體管的電特性測試MOS場效應晶體管電特性測試砷化鎵場效應晶體管的電特性測試二極管電特性測試
半導體分立器件試驗方法GJB128-1986
半導體分立器件文字符號GB/T 11499-2001
半導體分立器件和集成電路 第5-2部分:光電子器件 基本額定值和特性GB/T 15651.2-2003
半導體分立器件外形尺寸GB/T 7581-1987
半導體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件 測試方法GB/T 15651.3-2003
半導體分立器件型號命名方法GB/T 249-2017
半導體分立器件試驗方法GJB128A-1997
半導體分立器件型號命名方法GB/T 249-1989
半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管GB/T 4587-1994
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(半導體分立器件檢測)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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