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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

單晶衍射檢測范圍

晶體學, 結晶學, 物理學, X射線衍射, 材料科學, 固體物理學, 空間群, 晶體結構, 晶體化學, 晶格缺陷, 晶體生長, 單晶制備, 晶體表面, 功能材料, 晶體管, 單晶片, 晶體生長機制, 晶體結晶, 晶體工程, 衍射峰, 晶體形貌

單晶衍射檢測項目

晶體學, 表面形貌分析, 晶體結構解析, 晶體缺陷分析, 晶體生長機理, 晶體取向分析, 晶體形態分析, 晶體晶面指數, 晶體應力分析, 晶體位錯分析, 晶體晶格參數測定, 晶體晶界分析, 晶體畸變分析, 晶體內應力分析, 晶體晶粒尺寸測定, 晶體軸向比, 晶體雜質分析, 晶體溶質測定, 晶體表面能測定, 晶體晶體學方向, 晶體結晶方向控制, 晶體晶面能, 晶體單晶材料鑒定

單晶衍射檢測方法

單晶衍射： 該方法使用X射線或電子束照射單個晶體樣品，通過測量衍射圖案來確定晶體結構。

旋轉晶體法： 將晶體固定在旋轉器上，在X射線或電子束的照射下旋轉晶體，記錄不同角度下的衍射圖案。

Laue方法： 在不旋轉晶體的情況下，記錄由晶體產生的完整衍射圖案。

搖擺法： 通過不斷改變入射角度或樣品方向，記錄多個不同方向的衍射圖案，獲取更全面的結構信息。

分區衍射： 將單晶體分成不同區域，分別測量每個區域的衍射數據，再組合得到整體晶體的結構。

電子衍射： 使用電子束而不是X射線照射晶體，可以獲得更高分辨率的晶體結構信息。

高分辨X射線衍射： 使用高能X射線照射單晶樣品，可以解析出更精細的晶體結構信息。

室溫衍射： 在常溫下進行衍射實驗，適合一般晶體的結構分析。

常規X射線衍射： 使用常規X射線設備進行衍射實驗，是一種常用的單晶衍射方法。

單晶衍射檢測儀器

X射線衍射儀,電子衍射儀,中子衍射儀,原子力顯微鏡,掃描電子顯微鏡,拉曼光譜儀,紅外光譜儀,核磁共振儀,質譜儀,拉曼顯微鏡,透射電子顯微鏡,原子吸收光譜儀,電子能譜儀,薄膜厚度測量儀,原子力顯微鏡,氣相色譜儀,質子共振儀,光纖光譜儀,熒光顯微鏡,電感耦合等離子體發射光譜儀,電動勢差掃描顯微鏡

單晶衍射檢測標準

JJG (教委) 008-1996：四圓單晶X射線衍射儀檢定規程

GB/T 42676-2023：半導體單晶晶體質量的測試 X射線衍射法

JY/T 0588-2020：單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則

GB/T 5238-2019：鍺單晶和鍺單晶片

GB/T 12962-2015：硅單晶

GB/T 20230-2022：磷化銦單晶

QB/T 1173-2002：單晶體冰糖

SJ 20607-1996：鉬酸鉛單晶規范

GB/T 20229-2022：磷化鎵單晶

JB/T 7996-2012(2017)：普通磨料 單晶剛玉

YS/T 42-2010(2017)：鉭酸鋰單晶

JB/T 7996-2012：普通磨料 單晶剛玉

YS/T 1167-2016(2017)：硅單晶腐蝕片

GB/T 26069-2022：硅單晶退火片

JB/T 11144-2011：X射線衍射儀

YS/T 1182-2016：鍺單晶安全生產規范

YS/T 554-2007(2014)：鈮酸鋰單晶

YS/T 42-2010：鉭酸鋰單晶

JB/T 11144-2011(2017)：X射線衍射儀

YS/T 554-2007：鈮酸鋰單晶

YS/T 1167-2016：硅單晶腐蝕片

GB/T 20228-2021：砷化鎵單晶

SJ 20444A-2018：鈮酸鋰單晶規范

GB/T 12964-2018：硅單晶拋光片

GB/T 31092-2022：藍寶石單晶晶棒

YS/T 1182-2016(2017)：鍺單晶安全生產規范

GB/T 19077-2016：粒度分析 激光衍射法

SJ/T 11450-2013(2017)：單晶爐能源消耗規范

SJ/T 11450-2013：單晶爐能源消耗規范

GB/T 29504-2013：300mm 硅單晶

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（單晶衍射檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。