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成像原理檢測(cè)

原創(chuàng)發(fā)布者:北檢院    發(fā)布時(shí)間:2024-02-29     點(diǎn)擊數(shù):

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注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

成像原理檢測(cè)范圍

光學(xué)顯微鏡, 透射電子顯微鏡, 掃描電子顯微鏡, 原子力顯微鏡, 紅外顯微鏡, 紫外顯微鏡, 拉曼顯微鏡, 熒光顯微鏡, 共聚焦顯微鏡, 透射X射線顯微鏡, 掃描隧道顯微鏡, X射線熒光顯微鏡, 電子探針顯微鏡, 納米壓印顯微鏡, 磁力顯微鏡, 電荷耦合器件顯微鏡

成像原理檢測(cè)項(xiàng)目

分辨率,對(duì)比度,像素大小,動(dòng)態(tài)范圍,焦距,倍率,透鏡尺寸,掃描方式,傳感器類型,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),色彩準(zhǔn)確性,曝光時(shí)間,幀率,接口類型,支持的格式,光圈大小,白平衡,畸變程度,伽馬校正,濾鏡類型

成像原理檢測(cè)方法

光學(xué)顯微鏡: 樣品放置在顯微鏡下,通過(guò)透射或反射光學(xué)系統(tǒng)對(duì)樣品的表面或內(nèi)部進(jìn)行觀察和分析。

掃描電子顯微鏡: 使用聚焦的電子束來(lái)照射樣品表面,根據(jù)樣品對(duì)電子的散射和透射產(chǎn)生圖像。

原子力顯微鏡: 通過(guò)感知樣品表面的微小力,以納米尺度的探針掃描樣品表面,獲得高分辨率的表面形貌圖像。

拉曼光譜: 通過(guò)樣品散射入射光而產(chǎn)生的拉曼散射光譜,可以揭示樣品的結(jié)構(gòu)、成分和性質(zhì)等信息。

X射線衍射: 將X射線照射到樣品上,根據(jù)樣品晶格結(jié)構(gòu)對(duì)X射線的衍射圖樣進(jìn)行分析,得到樣品的晶體結(jié)構(gòu)信息。

熒光顯微鏡: 利用樣品吸收并發(fā)射熒光信號(hào)的特性,觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)或特定成分的分布。

質(zhì)譜分析: 將樣品分子化合物轉(zhuǎn)化為離子質(zhì)荷比譜的方法,通過(guò)質(zhì)量分析器分析樣品的分子結(jié)構(gòu)。

核磁共振: 利用樣品原子核在外加磁場(chǎng)作用下的共振現(xiàn)象,獲得樣品的分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)環(huán)境信息。

電鏡: 使用電子束取代光線,通過(guò)對(duì)樣品的散射、透射等現(xiàn)象獲得高分辨率的顯微圖像。

貯液分析: 對(duì)樣品進(jìn)行化學(xué)成分分析,通過(guò)液相色譜、氣相色譜等分離和檢測(cè)技術(shù),獲得樣品中各成分的含量信息。

成像原理檢測(cè)儀器

光學(xué)顯微鏡, 電子顯微鏡, X射線衍射儀, 紅外光譜儀, 紅外顯微光譜儀, 質(zhì)譜儀, 核磁共振儀, 紅外熱成像儀, 拉曼光譜儀, 等離子體質(zhì)譜儀, 熱重分析儀, 掃描電鏡, 能譜儀, 紅外透射成像儀, 熒光顯微鏡, 熒光光譜儀, 紅外顯微成像系統(tǒng), 激光誘變體譜儀, 等離子體質(zhì)譜成像儀, 透射電子顯微鏡

成像原理檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 41123.1-2021:無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線計(jì)算機(jī)層析成像檢測(cè) 第1部分:原理、設(shè)備和樣品

SY/T 6488-2019:電成像和聲成像測(cè)井資料處理解釋規(guī)范

JY 20-1985:電機(jī)原理說(shuō)明

YY/T 1719-2023:正電子發(fā)射斷層成像及磁共振成像設(shè)備通用技術(shù)要求

JJF 1530-2015:凝膠成像系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范

SY/T 6642-2006:井間地震成像系統(tǒng)

JY/T 0408-2010:浮力原理演示器

CNS 15626-2-2012:心智工作負(fù)荷相關(guān)之人因工程原理-第2部:設(shè)計(jì)原理

GB/T 28032-2011:靜電成像墨粉用樹(shù)脂

HG/T 5915-2021:熱成像銀鹽打印膠片

YY/T 0767-2009:超聲彩色血流成像系統(tǒng)

GB/T 39638-2020:鑄件X射線數(shù)字成像檢測(cè)

GB/T 42886-2023:顯微鏡 數(shù)字成像顯示顯微鏡 提供給用戶的成像性能信息

GB/T 12064.9-2021:無(wú)損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 紅外熱成像

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SY/T 6844-2021:微電阻率成像測(cè)井儀

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GB/T 10091.1-1995:事物特性表定義和原理

JY 13-1988:變壓器原理說(shuō)明器

SJ 20972-2007:電荷耦合成像組件通用規(guī)范

SJ 20868-2003:電荷耦合成像器件測(cè)試方法

JJG (交通)183-2022:二維掃描成像聲吶

GH/T 1319-2020:棉包紅外成像溫度測(cè)量裝置

JB/T 12464-2015:無(wú)損檢測(cè) 機(jī)翼數(shù)字射線成像檢測(cè)方法

JJF 1596-2016:X射線工業(yè)實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范

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GB/Z 19736-2005:電子成像 文件圖像壓縮方法選擇指南

SY/T 6840-2011:超聲成像測(cè)井儀(附英文版)

CNS 3-12-1994:工程制圖(幾何公差-最大實(shí)體原理)

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

成像原理檢測(cè)流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考,因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右,部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于(成像原理檢測(cè))還有什么疑問(wèn),可以咨詢我們的工程師為您一一解答。