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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

二氧化硅檢測范圍

無機化合物, 氧化物, 硅化物, 材料科學, 硅類化合物, 無機材料, 金屬氧化物, 硅, 硅酸鹽, 電子材料, 化學化工, 硅酸鹽礦物, 半導體材料, 材料工程, 礦物, 硅沙, 元素化合物, 硅石, 硅酸鹽玻璃, 玻璃原料

二氧化硅檢測項目

硅含量, 硅晶體結構, 硅表面形貌, 硅氧鍵含量, 硅氫鍵含量, 硅的質量分數, 硅的形態結構, 硅的純度, 硅的晶體結構, 硅的晶格常數, 硅的微觀形貌, 硅的熱穩定性, 硅的熱分解溫度, 硅的比表面積, 硅的電導率, 硅的孔徑大小, 硅的孔結構, 硅的晶粒大小, 硅的熱導率, 硅的光譜特性

二氧化硅檢測方法

傅里葉變換紅外光譜（FTIR）
通過檢測樣品吸收或發射的紅外光譜來確定樣品中二氧化硅的存在。

拉曼光譜
利用激光散射光譜技術，檢測樣品中的分子振動信息，可以確定二氧化硅的存在。

X射線衍射（XRD）
通過衍射分析樣品晶格結構，確定樣品中是否存在二氧化硅。

熱重分析（TGA）
通過在不同溫度下檢測樣品重量的變化，確定二氧化硅的含量。

掃描電子顯微鏡（SEM）
通過觀察樣品表面形貌和結構來分析樣品中是否含有二氧化硅。

能譜分析（EDS）
輔助SEM使用，通過分析樣品表面元素的特征X射線能譜圖譜，確定二氧化硅的存在。

原子力顯微鏡（AFM）
通過探測樣品表面的原子尺度形貌，可以確定二氧化硅的分布情況。

氣相色譜-質譜聯用（GC-MS）
將樣品蒸發成氣態，通過氣相色譜-質譜聯用技術分析揮發物質，確定二氧化硅的含量。

電化學阻抗譜（EIS）
通過測定樣品在交流電場下的電阻抗譜，可以判斷樣品中電解質與二氧化硅的相對含量。

二氧化硅檢測儀器

紅外光譜儀, X射線衍射儀, 電子顯微鏡, 熱重分析儀, 紅外分光光度計, 核磁共振儀, 質譜儀, 原子吸收光譜儀, 熒光光譜儀, 拉曼光譜儀,紫外-可見分光光度計, 原子熒光光譜儀, 離子色譜儀, 氣相色譜儀, 液相色譜儀, 超高效液相色譜儀, 電感耦合等離子體質譜儀, 離子色譜-質譜聯用, 場發射掃描電鏡, 電感耦合等離子體質譜聯用儀, 等離子體質譜聯用儀, 場發射電子探針

二氧化硅檢測標準

HG/T 4526-2013：消光用二氧化硅

HG/T 4526-2013(2017)：消光用二氧化硅

GB/T 20020-2013：氣相二氧化硅

HG/T 3062-2023：橡膠配合劑 沉淀水合二氧化硅 二氧化硅含量的測定

GB/T 32661-2016：球形二氧化硅微粉

HG/T 3062-2008(2014)：橡膠配合劑 沉淀水合二氧化硅干燥樣品二氧化硅含量的測定

GB/T 21236-2007：電爐回收二氧化硅微粉

GB/T 30451-2013：有序介孔二氧化硅

HG/T 3062-2008(2017)：橡膠配合劑 沉淀水合二氧化硅干燥樣品二氧化硅含量的測定

HG 2791-1996：食品添加劑 二氧化硅

GB/T 5195.8-2006：螢石 二氧化硅含量的測定

HG/T 6044-2022：取水定額 沉淀水合二氧化硅

HG 2791-1996(2009)：食品添加劑 二氧化硅

GB/T 36655-2018：電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法

JC/T 2518-2019：疏水二氧化硅氣凝膠粉體

HG/T 6180-2023：二氧化硅行業綠色工廠評價要求

SJ/T 10902-1996：電子玻璃中二氧化硅的分析

SJ/T 10902-1996(2017)：電子玻璃中二氧化硅的分析

QB/T 2346-2015(2017)：口腔清潔護理用品 牙膏用二氧化硅

HG/T 3061-2020：橡膠配合劑 沉淀水合二氧化硅

QB/T 5684-2022：食用鹽中二氧化硅的測定

HS/T 47-2014：有機表面處理二氧化硅的鑒定方法

QB/T 2346-2015：口腔清潔護理用品 牙膏用二氧化硅

SJ/T 10675-2002：電子及電器工業用二氧化硅微粉

DL/T 258-2012：煤中游離二氧化硅的測定方法

YB/T 4225-2010(2017)：石英砂中二氧化硅含量測定方法

YB/T 4225-2010：石英砂中二氧化硅含量測定方法

MT/T 255-2000：煤礦水中可溶性二氧化硅的測定方法

YB/T 505.1-2007：含釩鈦爐渣 二氧化硅含量測定 重量法

YB/T 505.1-2007(2012)：含釩鈦爐渣 二氧化硅含量測定 重量法

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（二氧化硅檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。