注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
顆粒度分析
粉徑分布,D50,D10,D90,平均粒徑,粒度分析,顆粒大小分布,顆粒尺寸測量,顆粒徑向分布,顆粒分選分析,粒度分布曲線,粒徑測定,顆粒形態分析,顆粒成分檢測,顆粒形狀分布,顆粒度分級,顆粒度分析,分級篩分析,顆粒均勻系數,粒徑分選,顆粒大小測定
激光粒度分析: 通過激光照射樣品,測量散射光的強度與顆粒直徑的關系,從而推斷出粉徑分布。
掃描電子顯微鏡(SEM): 利用電子束與樣品相互作用,檢測出樣品表面的形貌,進而確定粉徑分布情況。
動態光散射: 通過測量顆粒在液體介質中的布朗運動來推斷粉徑分布情況。
X射線衍射(XRD): 通過測量顆粒對X射線的衍射情況來確定樣品的結晶性質以及粉徑分布。
透射電子顯微鏡(TEM): 利用電子束穿透樣品,觀察投影圖像來確定顆粒的粉徑分布。
激光粒度儀,動態光散射儀,顯微鏡,電子顯微鏡,掃描電子顯微鏡,激光共振散射儀,透射電子顯微鏡,原子力顯微鏡,紫外-可見分光光度計,溶液動態光散射儀,粒度分析儀,離心沉降儀,靜電沉降儀,氣動破碎儀,氣溶膠質量測量儀,凝膠過濾層析,毛細管電泳儀,芯片電泳儀,紅外分光光度計,圓二色光譜儀
JC/T 2063-2011(2017):云母粉徑厚比測定方法
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1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(粉徑分布D檢測)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。