獲取試驗方案？獲取試驗報價？獲取試驗周期？

注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

測試樣品：硅外延片

測試項目

成分分析，含量測試，電阻率測試，表面金屬，晶體完整性，指標測試等。

測試周期：7-15個工作日，試驗可加急

測試標準

GB/T1550 非本征半導體材料導電類型測試方法

GB/T1555 半導體單晶晶向測定方法

GB/T2828.1-2012 計數抽樣檢驗程序第1部分：按接收質量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣

GB/T6617 硅片電阻率測定擴展電阻探針法

GB/T6624 硅拋光片表面質量目測檢驗方法

GB/T12964 硅單晶拋光片

GB/T13389 摻硼摻磷摻砷硅單晶電阻率與摻雜劑濃度換算規程

GB/T14141 硅外延層、擴展層和離子注入層薄層電阻的測定直排四探針法

GB/T14142 硅外延層晶體完整性檢驗方法腐蝕法

GB/T14146 硅外延層載流子濃度測定汞探針電容-電壓法

GB/T14264 半導體材料術語

GB/T14844 半導體材料牌號表示方法

GB/T14847 重摻雜襯底上輕摻雜硅外延層厚度的紅外反射測量方法

GB/T19921 硅拋光片表面顆粒測試方法

GB/T24578 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

YS/T28 硅片包裝

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（硅外延片測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。