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J型場(chǎng)效應(yīng)管(JFET)測(cè)試

原創(chuàng)發(fā)布者：北檢院    發(fā)布時(shí)間：2022-09-01     點(diǎn)擊數(shù)：

獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

測(cè)試樣品：J型場(chǎng)效應(yīng)管(JFET)

測(cè)試項(xiàng)目

飽和漏極電流/DSS，棚極截止電流/Gss，柵源截止電壓VGs(of)，源柵開(kāi)路電壓VsG0，源棚闌值電壓VGS(TO)，漏柵開(kāi)路電壓VDGO，跨導(dǎo)gis測(cè)試

測(cè)試周期：7-15個(gè)工作日，試驗(yàn)可加急

J型場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

CECC 50 012- 053 ISSUE 1-1987BS CECC 50 012-053: 管殼額定、P通道四芯線組絕緣柵極增強(qiáng)型場(chǎng)效應(yīng)管;雙面引腳封裝,主應(yīng)用于高速開(kāi)關(guān)場(chǎng)合(英)

JJG (電子)04006-1987BJ2913 型場(chǎng)效應(yīng)管參數(shù)測(cè)試儀(試行)

實(shí)驗(yàn)儀器

實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

測(cè)試流程

J型場(chǎng)效應(yīng)管(JFET)測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（J型場(chǎng)效應(yīng)管(JFET)測(cè)試）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。