注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
測試樣品:太陽電池用硅單晶
導電類型,徑向電阻率變化,晶體完整性,晶向及晶向離度,氫含量,氬含量,電阻率,直徑,碳含量,表面質量測試
測試周期:7-15個工作日,試驗可加急
CECC 90 105 ISSUE 2-1986空白詳細規范:雙極熔絲式可編程只讀存儲器,硅單晶集成電路(英,法) 第1次修訂(英,法) 第2次修訂(英,法)
CECC 90 202- 001 ISSUE 1-1988BS CECC 90 202-001:硅單晶集成電路 超低噪音精密運算放大器(英)
CECC 90 202- 003 ISSUE 1-1987BS CECC 90 202-003:硅單晶集成電路 低噪音精密DIFET運算放大器(英)
DIN 50440-1998半導體材料檢驗.用光導衰減法測定硅單晶復合載流子壽命;在桿上試件上測量
GB/T 1551-2021硅單晶電阻率的測定 直排四探針法和直流兩探針法
GB/T 1557-2018硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法
GB/T 11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法
GB/T 12962-2015硅單晶
GB/T 12964-2018硅單晶拋光片
GB/T 12965-2018硅單晶切割片和研磨片
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(太陽電池用硅單晶測試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。