獲取試驗方案？獲取試驗報價？獲取試驗周期？

注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

測試樣品：硅單晶拋光片

測試項目

厚度和總厚度變化，導電類型，彎曲度，徑向電阻率變化，氧化誘生缺陷，電阻率，表面質量，電阻率，直徑，翹曲度，表面質量測試

測試周期：7-15個工作日，試驗加急

測試標準

GB/T 12964-2018硅單晶拋光片

GB/T 14146-2021硅外延層載流子濃度的測試 電容-電壓法

GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

GB/T 26069-2022硅單晶退火片

GB/T 29504-2013300mm 硅單晶

GB/T 29506-2013300mm 硅單晶拋光片

GB/T 30656-2014碳化硅單晶拋光片

GB/T 31351-2014碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

GB/T 41325-2022集成電路用低密度晶體原生凹坑硅單晶拋光片

SJ/T 11502-2015碳化硅單晶拋光片規范

SJ/T 11503-2015碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法

SJ/T 11504-2015碳化硅單晶拋光片表面質量的測試方法

SJ 21122-2016PVTSiC76SI1-BP01型碳化硅單晶拋光片規范

T/IAWBS 005-20186 英寸碳化硅單晶拋光片

T/IAWBS 010-2019碳化硅單晶拋光片表面質量和微管密度檢測方法-激光散射檢測法

T/IAWBS 012-2019碳化硅單晶拋光片表面質量和微管密度測試方法 ——共焦點微分干涉光學法

T/IAWBS 014-2021碳化硅單晶拋光片位錯密度的測試方法

T/ZZB 0648-2018200 mm重摻磷直拉硅單晶拋光片

YS/T 28-2015硅片包裝

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（硅單晶拋光片測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。