獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。

檢測樣品：識別卡

檢測項(xiàng)目

塊保護(hù)時(shí)間(BGT)要求，奇偶校驗(yàn)，阻光度，耐化學(xué)性，觸點(diǎn)的表面輪廓要求，符合T=1協(xié)議下IO接收時(shí)序要求第一磁道ID-1型卡的最多字符數(shù)，第一磁道位密度，第一磁道編碼字符集，第三磁道位密度，第三磁道編碼字符集，第二磁道ID-1型卡的最多字符數(shù)，磁性材料表面粗糙度，磁性材料表面輪廓，磁條與識別卡的粘合，卡表面畸形要求，字符凸印的起伏高度，帶觸點(diǎn)集成電路卡邏輯操作T=1協(xié)議，帶觸點(diǎn)集成電路卡邏輯操作復(fù)位應(yīng)答(ATR)第二磁道位密度卡的耐久性要求卡的阻光度要求，IFD邏輯操作T=0協(xié)議，IFD邏輯操作T=1協(xié)議，IFD對ICC超過字符等待時(shí)間(CWT)的反應(yīng)要求IFD邏輯操作T=1協(xié)議，IFD的塊時(shí)序要求帶觸點(diǎn)集成電路卡靜電，帶觸點(diǎn)集成電路邏輯操作卡T=0協(xié)議指標(biāo)等

檢測周期：7-15個(gè)工作日，試驗(yàn)可加急

檢測標(biāo)準(zhǔn)

識別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第3部分：電信號和傳輸協(xié)議 GB/T16649.3-2006ISO/IEC7816-3:1997

識別卡 記錄技術(shù) 第2部分：磁條-低矯頑力 GB/T15120.2-2012ISOIEC7811-2:2001

識別卡 測試方法 第1部分：一般特性測試 GB/T17554.1-2006ISO/IEC10373-1:1998

識別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第1部分：物理特性 GB/T16649.1-2006ISO/IEC7816-1:1998

識別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第3部分：電信號和傳輸協(xié)議 GB/T16649.3-2006ISO/IEC7816-3:1997

識別卡 物理特性 GB/T14916-2006ISO/IEC7810:2003

實(shí)驗(yàn)儀器

測試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（識別卡指標(biāo)檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。