獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器

試驗(yàn)周期：7-15個(gè)工作日，試驗(yàn)可加急

檢測(cè)項(xiàng)目

DAC失調(diào)誤差（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.1條）

DAC雙極零點(diǎn)誤差（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.3條）

DAC增益誤差（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.5條）

DAC滿度誤差（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.7條）

DAC微分非線性DNL（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.9條）

DAC積分非線性INL（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.11條）

DAC輸出順從電壓范圍（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.13條）

DAC滿度輸出電流（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.14條）

DAC模擬輸出漏電流（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.15條）

DAC電源電流（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.23條）

DAC功耗（《集成電路模擬數(shù)字、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 GJB9388-2018 第6.23條）

DAC直流電源抑制比（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第6.24條）

ADC失調(diào)誤差（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.1條）

ADC滿度誤差（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.3條）

ADC增益誤差（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.5條）

ADC微分非線性DNL（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.7條）

ADC積分非線性INL（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.9條）

ADC失碼（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.11條）

ADC模擬輸入電流（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.17條）

ADC電源電流（《半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理》 GJB9388-2018 第7.20條）

線性范圍（總膽紅素測(cè)定試劑盒（釩酸鹽氧化法） YY/T 1205-2013）

線性區(qū)間(線性范圍)（總膽汁酸測(cè)定試劑盒（酶循環(huán)法） YY/T 1204-2013）

線性(線性范圍)（總蛋白測(cè)定試劑盒 YY/T 1444-2016）

線性（線性范圍）（免疫比濁法檢測(cè)試劑（盒）（透射法） YY/T 1255-2015）

輸出量線性（《醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備影像質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范》， WS 76-2011）

線性（《醫(yī)用電子加速器衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》GBZ126-2011）

CT值線性（Χ射線計(jì)算機(jī)斷層攝影裝置質(zhì)量保證檢測(cè)規(guī)范 ，GB 17589-2011）

輻射輸出量線性（醫(yī)用常規(guī)Χ射線診斷設(shè)備影像質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范 ，WS 76-2011）

吸收劑量的線性（電子加速器放射治療放射防護(hù)要求 ，GBZ 126-2011）

吸收劑量的線性（醫(yī)用電子加速器性能和實(shí)驗(yàn)方法 GB 15213-94）

線性范圍（C反應(yīng)蛋白測(cè)定試劑盒 YY/T 1513-2017）

測(cè)試區(qū)間（線性范圍）（D-二聚體測(cè)定試劑盒（免疫比濁法） YY/T 1240-2014）

線性范圍（α-淀粉酶測(cè)定試劑（盒）(連續(xù)監(jiān)測(cè)法) YY/T 1194-2011）

線性區(qū)間（線性范圍）（α-羥丁酸脫氫酶測(cè)定試劑（盒） YY/T 1242-2014）

線性誤差（半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測(cè)試方法的基本原理 GB/T14029-1992 2.3節(jié)）

線性誤差EL（集成電路A_D和D_A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ/20961-2006 5.1.5節(jié)）

線性區(qū)間(線性范圍)（葡萄糖測(cè)定試劑盒（酶法） YY/T 1200-2013）

線性(線性范圍)（缺血修飾白蛋白測(cè)定試劑（盒） YY/T 1461-2016）

線性區(qū)間(線性范圍)（乳酸脫氫酶測(cè)定試劑（盒） YY/T 1241-2014）

線性(線性范圍)（視黃醇結(jié)合蛋白測(cè)定試劑盒（免疫比濁法） YY/T 1584-2018）

線性區(qū)間(線性范圍)（堿性磷酸酶測(cè)定試劑（盒）（NPP底物-AMP緩沖液法） YY/T 1234-2014）

微分線性誤差EDL（集成電路A_D和D_A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 SJ/20961-2006 5.1.7節(jié)）

更多檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考

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測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（線性檢測(cè)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。