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晶硅材料測試

原創(chuàng)發(fā)布者：北檢院    光伏材料    發(fā)布時(shí)間：2022-04-13     點(diǎn)擊數(shù)：

獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測試望見諒。

測試樣品：晶硅材料

測試項(xiàng)目

厚度和總厚度變化，彎曲度，翹曲度，徑向電阻率變化，導(dǎo)電類型，晶向偏離度，氧含量，碳含量，硅片參考面晶向，工業(yè)硅鐵含量，工業(yè)硅鋁含量，工業(yè)硅鈣含量，工業(yè)硅元素含量，電阻及電阻率，邊緣輪廓，參考面長度，切口尺寸，直徑及直徑偏差，平整度，局部平整度，粒度，外觀檢驗(yàn)

測試周期：7-15個(gè)工作日，參考周期

晶硅材料測試

測試標(biāo)準(zhǔn)

硅片厚度和總厚度變化測試方法 GB/T6618-2009

硅片彎曲度測量方法 GB/T6619-2009

半導(dǎo)體單晶晶向測定方法 GB/T1555-2009

硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法 GB/T1557-2018

硅中代位碳原子含量紅外吸收測量方法 GB/T1558-2009

硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測試測定方法 GB/T13388-2009

工業(yè)硅化字分析方法第4部分：雜質(zhì)元素含量的測定電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法 GB/T1484942014

硅片邊緣輪廓檢驗(yàn)方法 YS/T26-2016

硅片表面平整度測試方法 GB/T6621-2009

硅片平整度、厚度及總厚度變化測試自動(dòng)非接觸掃描法 GB/T29507-2013

硅片局部平整度非接觸式標(biāo)準(zhǔn)測試方法 GB/T19922-2005

工業(yè)硅 GB/T2881-2014(4.2)

硅單晶 GB/T12962-2015

太陽電池用硅單晶 GB/T25076-2010

硅切割片和研磨片 GB/T12965-2005

太陽能電池用硅單晶切割片 GB/T26071-2010

  • 光伏工業(yè)用化學(xué)品測試
  • 光伏玻璃測試
  • 光伏用鋁型材及鋁邊框測試
  • 銀漿料，鋁漿料測試
  • 光伏背板測試
  • 光伏用膠膜測試
  • 碳化硅粉和硅微粉測試

    • 實(shí)驗(yàn)儀器

    實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器 實(shí)驗(yàn)室儀器

    測試流程

    晶硅材料測試流程

    注意事項(xiàng)

    1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

    2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

    3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

    4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

    5.如果對于（晶硅材料測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。