注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試望見諒。
半導體分立器件篩選
7-15個工作日,加急實驗一般5個工作日
溫度循環(huán)外觀及機械檢驗芯片目檢(半導體二極管)老煉和壽命試驗(IGBT)老煉(閘流晶體管)穩(wěn)態(tài)工作壽命老煉(二極管、整流管、穩(wěn)壓管)老煉(晶體管)高溫壽命
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1051
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法2071
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法2073
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1042
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1040
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1026、1027
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1038
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1039
半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1031、1032
以上標準僅供參考,如有其他標準需求或者實驗方案需求可以咨詢工程師
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(半導體分立器件篩選檢測)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。