注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。
檢測樣品
半導體集成電路模擬開關模擬開關半導體集成電路（模擬開關）
實驗周期
7-15個工作日，加急實驗一般5個工作日
檢測項目
導通電阻 RON導通電阻導通電阻路差穩定性烘焙靜態條件下的電源電流輸入低電平電流 IIL導通態漏電流通道轉換時間導通電阻路差 △RON開啟時間截止態漏極漏電流截止態源極漏電流電源電流溫度循環關斷時間模擬電壓工作范圍導通電阻路差率輸入高電平電流輸出低電平電壓 VOL輸入高電平電流 IIH導通電阻溫度漂移率邏輯端輸入電流輸出高電平電壓 VOH輸入低電平電流開啟時間
檢測標準
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-1992 2.2
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.2
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.3
微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1
半導體器件集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2節 4
半導體器件集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2節 2
《半導體集成電路模擬開關測試方法》 GB/T 14028-2018 第5.6條
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.9
半導體器件集成電路第3部分 模擬集成電路 GB/T 17940-2000 第IV篇 第4節
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-1992 2.3
《半導體集成電路模擬開關測試方法》 GB/T 14028-2018 第5.7條
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.3
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.4
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.5
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.6節
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.2
半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000 第III篇第6節 5.1.1
微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.8
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.1節
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.6
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.16節
半導體器件集成電路 第2部分：數字集成電路第Ⅳ篇 GB/T 17574-1998 方法38
《半導體集成電路模擬開關測試方法》 GB/T 14028-2018 第5.4條
半導體器件集成電路 第2部分：數字集成電路第Ⅳ篇 GB/T 17574-1998 方法41
半導體器件集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2節 1
《半導體集成電路模擬開關測試方法》 GB/T 14028-2018 第5.5條
《半導體集成電路模擬開關測試方法》 GB/T 14028-2018 第5.8條
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.4
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.7
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.3節
《半導體集成電路模擬開關測試方法》 GB/T 14028-2018 第5.2條
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.4節
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.17
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.5
《半導體器件集成電路第2部分：數字集成電路 第IV篇》 GB/T 17574-1998 第2節第2條
《半導體集成電路模擬開關測試方法》 GB/T 14028-2018 第5.3條
《半導體器件集成電路第2部分：數字集成電路 第IV篇》 GB/T 17574-1998 第2節第4條
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.5節
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.16
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.2節
半導體集成電路模擬開關測試方法 GB/T 14028-2018 5.7
以上標準僅供參考，如有其他標準需求或者實驗方案需求可以咨詢工程師
實驗儀器
測試流程
注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。
3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對于（半導體集成電路模擬開關檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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定制方案 提供非標定制試驗方案
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保密協議 簽訂保密協議，嚴格保護客戶隱私
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全國取樣/寄樣 全國上門取樣/寄樣/現場試驗
