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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

測試樣品：場效應晶體管

測試項目

漏-源(直流)電壓，柵漏(直流)電壓，漏極(直流)電流，漏極峰值電流，漏極反向(直流)電流，漏極反向峰值電流，反偏安全工作區，短路安全工作區，重復雪崩能量，非重復雪崩能量，擊穿電壓，漏極漏電流，開關時間，開通能量，關斷能量，柵極電荷，輸入電容，輸出電容，反向傳輸電容，柵極內阻，結-殼瞬態熱阻抗和熱阻，高溫阻斷(HTRB)，間歇工作壽命(負載循環)

測試周期：7-15個工作日，試驗可加急

測試標準

半導體器件-分立器件-第8部分: 場效應晶體管 IEC60747-8Ed.3.0b:2010

半導體器件-分立器件-第8部分: 場效應晶體管 GB/T4586-94IEC60747-8Ed.3.0b:2010

二極管測試

絕緣柵雙極晶體管測試

半導體器件測試

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（場效應晶體管測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。