獲取試驗(yàn)方案？獲取試驗(yàn)報(bào)價(jià)？獲取試驗(yàn)周期？

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個(gè)人委托測(cè)試望見(jiàn)諒。

檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日，試驗(yàn)可加急

試驗(yàn)范圍

1. 航空航天器和航天設(shè)備中使用的電子元器件、機(jī)械部件等。

2. 醫(yī)療設(shè)備中使用的電子元器件、機(jī)械部件等。

3. 電力設(shè)備中使用的電子元器件、機(jī)械部件等。

4. 汽車和交通設(shè)備中使用的電子元器件、機(jī)械部件等。

5. 石油化工和化學(xué)工業(yè)中使用的管道、容器、閥門等設(shè)備。

試驗(yàn)項(xiàng)目

試驗(yàn)設(shè)備：需要選擇合適的低氣壓試驗(yàn)設(shè)備，如低氣壓試驗(yàn)箱、真空泵等。

試驗(yàn)條件：需要控制試驗(yàn)環(huán)境的氣壓和溫度等條件，以模擬低氣壓環(huán)境。

漏率測(cè)試：需要測(cè)試設(shè)備在低氣壓環(huán)境下的漏率，以評(píng)估其密封性能。

電氣性能測(cè)試：需要測(cè)試設(shè)備在低氣壓環(huán)境下的電氣性能，如絕緣電阻、電容等。

機(jī)械性能測(cè)試：需要測(cè)試設(shè)備在低氣壓環(huán)境下的機(jī)械性能，如振動(dòng)、沖擊等。

溫度試驗(yàn)：需要測(cè)試設(shè)備在低氣壓環(huán)境下的溫度性能，如溫度變化對(duì)設(shè)備的影響等。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓

GB/T 2423.27-2020環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合

GB/T 2423.63-2019環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(混合模式)綜合

GB/T 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合

GB/T 2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T 4857.13-2005包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第13部分：低氣壓試驗(yàn)方法

GB/T 4937.2-2006半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分:低氣壓

GB/T 5170.10-2017環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第10部分：高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

實(shí)驗(yàn)儀器

測(cè)試流程

注意事項(xiàng)

1.具體的試驗(yàn)周期以工程師告知的為準(zhǔn)。

2.文章中的圖片或者標(biāo)準(zhǔn)以及具體的試驗(yàn)方案僅供參考，因?yàn)槊總€(gè)樣品和項(xiàng)目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準(zhǔn)。

3.關(guān)于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗(yàn)周期一般是五個(gè)工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對(duì)于（低氣壓試驗(yàn)）還有什么疑問(wèn)，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。