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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

檢測樣品：材料

檢測項目：電離輻射檢測

檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急

檢測標準

AS/NZS 2161.8-2002職業防護手套 第8 部分:防電離輻射和放射性污染 (EN 421:1994)

ASTM E1614-1994(2004)遠程光纖光譜和寬帶系統用硅基光纖和光纜致電離輻射感應衰減的測量方法指南

ASTM E1654-1994(2004)遠程拉曼光纖分光鏡檢查用光纖和光纜電離輻射感應光譜變化的測量指南

ASTM F996-2011利用亞閥值電流-電壓特性將由于氧化物封閉孔和界面狀態引起的電離輻射感應金屬氧化物半導體場效應晶體管閥值電壓漂移分離成若干分量的試驗方法

ASTM F1467-2011半導體器件和微電路的電離輻射效應試驗中X射線測試儀(近似等于10keV輻射量子)的使用標準指南

BS 4094-1-1966電離輻射防護屏蔽數據推薦標準.第1部分:γ輻射的防護屏蔽

BS 4094-1-1966(R2011)電離輻射防護屏蔽數據推薦標準.第1部分:γ輻射的防護屏蔽

BS 4094-2-1971電離輻射防護屏蔽數據推薦標準.第2部分:X 輻射的防護屏蔽

BS 4094-2-1971(R2011)電離輻射防護屏蔽數據推薦標準.第2部分:X 輻射的防護屏蔽

BS 7811-2-1995確定電離輻射對絕緣材料影響的導則.第2部分:輻照和試驗規程

BS EN 421-2010預防電離輻射和放射性污染的防護手套

BS EN 60544-4-2003測定電離輻射對絕緣材料的效應的指南 第4部分:在輻射環境中工作的分類體系 替代BS 7811-4:1995

BS EN 60749-18-2003半導體器件 機械和氣候試驗方法 第18部分:電離輻射(全部劑量) 校正14531:2003年7月1日

BS IEC 60692-1999核儀器法.利用電離輻射的密度計.定義和試驗方法

BS IEC 61336-1996核儀器裝置.利用電離輻射的厚度測量系統的定義和試驗方法

BS IEC 61336-1996(R2005)核儀器裝置.利用電離輻射的厚度測量系統的定義和試驗方法

BS ISO 11929-4-2001電離輻射測量的檢測極限和判定閾的測定 第4部分:使用無樣品處理的線性標度模擬定率計測量的基本原理和應用

CEI 15-90-1997測定電離輻射對絕緣材料影響的指南.第2部分:輻射和試驗程序.伯瑪·伊迪茲酮

CEI 45-17-1997利用電離輻射源的電氣測量系統和儀器

CEI 45-32-1997利用電離輻射的密度計.定義和試驗方法. Prima Edizione

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（電離輻射檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。